【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及模拟量检测领域，更具体地说，涉及一种。
技术介绍
模拟量采集及控制系统广泛运用在工业控制的各个领域，尤其是冶金、化工、机械加工、医疗设备和电力系统等。在这些领域，模拟量对测量或加工的影响非常明显，模拟量采集及控制系统的好坏、运行性能的合适与否，直接影响到产品质量、运行效率等。并且，对于工业控制领域，例如医疗设备等行业，对模拟量精度的具有较高要求，而且这些行业多采用多通道模拟量采集。但这些行业对模拟量采集的精度大多停留在0.3%左右，且这些行业或是直接采用MCU中的模拟量检测通道或是选择一款低精度的ADC芯片实现精度控制。模拟量校准是实现模拟量高精度采集的必要手段，目前工业控制领域多采用以下3种校准方式:(1)采用内部PGA (可编程增益放大器)校准，例如采用本身具有校准功能的PGA或集成的ADC。但该方式只针对内部PGA进行校准，而无法对产生精度误差的其他因素进行校准，所以这种校准方式很难能保证精度。(2)根据内部基准源进行实时校准。但该种方式同样只针对内部PGA进行校准，而无法对产生精度误差的其他因素进行校准。(3)出厂前对设备进行单增益校准。该方式虽然保证了模拟量检测的线性度，但为了提高效率只选择一个增益，因此大大降低了检测精度。此外，为了单一提高精度也可以选择针对每个通道每个增益单独校准，但这种校准方式步骤繁琐，校准时间长，经常在校准过程中发生校准意外并导致产品失灵。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对上述模拟量检测精度不足或校准时间长的问题，提供一种。本专利技术解决上述技术问题的技术方案是，提供一种模拟量校准...
【技术保护点】
一种模拟量校准系统，其特征在于：包括参数存储单元、模式判断单元、第一校准单元以及第二校准单元，其中：所述参数存储单元，用于存储用户校准参数和多组分别对应不同增益范围的出厂校准参数；所述模式判断单元，用于判断当前选择的检测规格是否满足用户校准模式；第一校准单元，用于在所述模式判断单元确认满足用户校准模式时，选择用户校准参数对待检测的模拟量采样值进行校准，并将校准后的值作为检测结果输出；所述第二校准单元，用于在所述模式判断单元确认不满足用户校准模式时根据采样值所处的增益范围选择一组对应的出厂校准参数及使用所述选择的出厂校准参数对采样值进行校准，并将校准后的值后作为检测结果输出。
【技术特征摘要】
1.一种模拟量校准系统，其特征在于:包括参数存储单元、模式判断单元、第一校准单元以及第二校准单元，其中:所述参数存储单元，用于存储用户校准参数和多组分别对应不同增益范围的出厂校准参数；所述模式判断单元，用于判断当前选择的检测规格是否满足用户校准模式；第一校准单元，用于在所述模式判断单元确认满足用户校准模式时，选择用户校准参数对待检测的模拟量采样值进行校准，并将校准后的值作为检测结果输出；所述第二校准单元，用于在所述模式判断单元确认不满足用户校准模式时根据采样值所处的增益范围选择一组对应的出厂校准参数及使用所述选择的出厂校准参数对采样值进行校准，并将校准后的值后作为检测结果输出。2.根据权利要求1所述的模拟量校准系统，其特征在于:所述校准系统包括用户参数创建单元，用于根据用户输入生成用户校准参数并存储到参数存储单元；所述模式判断单元在用户校准模式被开启且所述参数存储单元中存在与当前检测规格对应的用户校准参数时确认当前检测规格满足用户校准模式。3.根据权利要求1所述的模拟量校准系统，其特征在于:每一组出厂校准参数包括零点采样值、正量程点采样值和负量程点采样值；所述校准系统包括出厂参数创建单元，用于分别获得多个增益范围内的零点采样值、正量程点采样值和负量程点采样值并存储到参数存储单兀。4.根据权利要求3所述的模拟量校准系统，其特征在于:所述第二校准单元包括参数选择子单元、公式选择子单元，其中所述参数选择子单元，用于根据采样值所处的增益范围选择一组对应的出厂校准参数；所述公式选择子单元，用于在所述采样值大于或等于零点采样值时使用正向偏移公式对所述采样值进行校准、在所述采样值小于零点采样值时使用负向偏移公式对所述采样值进行校准。5.根据权利要求4所述的模拟量校准系统，其特征在于:所述正量程点...
【专利技术属性】
技术研发人员：闫超，
申请(专利权)人：深圳市汇川控制技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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