【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种硬质合金粘结相中钨的固溶度分析检测方法,尤其是应用X射线能谱定量分析硬质合金粘结相中固溶钨元素含量。
技术介绍
硬质合金粘结相中钨的固溶含量对硬质合金的物理性能与使用性能有着至关重要的影响,分析粘结相中钨的固溶含量可以对控制硬质合金产品质量提供可靠的保障。硬质合金的化学成分、碳量控制、烧结工艺制度、后续热处理等都是影响合金粘结相中钨的固溶含量的重要因素,并最终影响到硬质合金的物理性能及使用性能。因此硬质合金粘结相中钨的固溶度是硬质合金性能的重要表征指标之一。由于硬质合金的粘结相包覆在WC相周围,Co层分布较薄,一般在I?5um,无法采用机械破碎的方法将WC相与钴相进行分离,因此常规的化学分析或仪器分析无法对硬质合金粘结相中固溶的钨元素含量进行定量分析。如何准确获得硬质合金粘结相中固溶的钨含量,一直以来是开展硬质合金研究的一个重要技术难点。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种硬质合金粘结相中固溶钨元素的含量的定量分析检测方法,即,其硬质相与粘接相分离完全,钨的固溶度分析检测结果准确度高。为实现上述专利技术目的,本专利技术采用了如下技术方案:一种,依次包括以下步骤:(一)将待测硬质合金样品制备出一个具有光滑平整的金相抛光面;(二)采用硬质相与粘接相化学分离技术将金相抛光面上的硬质相剥离,并清除样品表面杂质及氧化层,制备好金相抛光面上已剥离硬质相的待测样品;(三)采用纯Co粘接相样品优化X射线能谱仪校准设置,同时进行保存;(四)选择成分已知的质量百分比为5%ff+95% Co的钴基合金样品作为X射线能谱定量分析标准样品,根据标 ...
【技术保护点】
一种硬质合金粘结相中钨的固溶度分析检测方法,依次包括以下步骤:(一)将待测硬质合金样品制备出一个具有光滑平整的金相抛光面;(二)采用硬质相与粘接相化学分离技术将金相抛光面上的硬质相剥离,并清除样品表面杂质及氧化层,制备好金相抛光面上已剥离硬质相的待测样品;(三)采用纯Co粘接相标准样品优化X射线能谱仪校准设置,同时进行保存;(四)选择成分已知的质量百分比为5%?W+95%?Co的钴基合金样品作为X射线能谱定量分析标准样品,根据标准样品的理论值与实际测试结果,采用ZAF基体校正法,求出校正因子,并作为定量标样数据库文件保存,根据标准样品的检测结果确定待测样品分析的最佳扫描电镜工作参数;(五)采用X射线能谱定量分析技术,以固溶W的质量百分比为5%的钴基合金所建立的数据及相应参数作为能谱定量标准数据库文件,对待测样品在不同视场下多次多点进行测量;取其算数平均值,从而得出待测样品粘结相中固溶钨的含量。
【技术特征摘要】
1.一种硬质合金粘结相中钨的固溶度分析检测方法,依次包括以下步骤:(一)将待测硬质合金样品制备出一个具有光滑平整的金相抛光面;(二)采用硬质相与粘接相化学分离技术将金相抛光面上的硬质相剥离,并清除样品表面杂质及氧化层,制备好金相抛光面上已剥离硬质相的待测样品;(三)采用纯Co粘接相标准样品优化X射线能谱仪校准设置,同时进行保存;(四)选择成分已知的质量百分比为5%ff+95% Co的钴基合金样品作为X射线能谱定量分析标准样品,根据标准样品的理论值与实际测试结果,采用ZAF基体校正法,求出校正因子,并作为定量标样数据库文件保存,根据标准样品的检测结果确定待测样品分析的最佳扫描电镜工作参数;(五)采用X射线能谱定量分析技术,以固溶W的质量百分比为5%的钴基合金所建立的数据及相应参数作为能谱定量标准数据库文件,对待测样品在不...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢晨辉,彭宇,周华堂,谭立群,郭建中,
申请(专利权)人:株洲硬质合金集团有限公司,
类型:发明
国别省市:
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