本发明专利技术适用于电子领域，提供了一种上下电测试电路及装置，该电路包括：至少一电源，用于提供工作电源电压以及测试电源电压；控制单元，用于将所述控制终端输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号；至少一测试选择开关，用于在所述测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号；电源控制单元，用于选择输出一个或多个所述测试电源电压；至少一可控开关单元，用于在上电测试指令信号的控制下导通或关断，并于导通时利用所述测试电源电压对所述待测设备进行上电测试。本发明专利技术通过指令控制可控开关单元闭合或关断，实现对待测设备上下电的自动化多路测试，测试成本低，体积小，效率高。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术适用于电子领域，提供了一种上下电测试电路及装置，该电路包括：至少一电源，用于提供工作电源电压以及测试电源电压；控制单元，用于将所述控制终端输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号；至少一测试选择开关，用于在所述测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号；电源控制单元，用于选择输出一个或多个所述测试电源电压；至少一可控开关单元，用于在上电测试指令信号的控制下导通或关断，并于导通时利用所述测试电源电压对所述待测设备进行上电测试。本专利技术通过指令控制可控开关单元闭合或关断，实现对待测设备上下电的自动化多路测试，测试成本低，体积小，效率高。【专利说明】一种上下电测试电路及上下电测试装置
本专利技术属于电子领域，尤其涉及一种上下电测试电路及上下电测试装置。
技术介绍
软件开发后需要通过一定的载体设备对其进行上下电测试，以验证其功能的实现，以及实现的效果，目前传统方法测试软件通常需要人工手动切断或闭合电源完成待测设备的上、下电，自动化程度低，或者通过LABVIEW软件进行测试，但是，LABVIEff软件无法实现指令控制，售价又过高，并且只能实现两路上下电的测试，因此导致测试成本高、方案复杂、效率低。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种自动控制上下电的测试电路，旨在解决软件测试无法实现自动化,并且测试成本高、方案复杂、效率低的问题。本专利技术实施例是这样实现的，一种自动控制上下电的测试电路，其特征在于，所述电路与控制终端和待测设备连接，所述电路包括:至少一电源，用于提供工作电源电压以及测试电源电压；控制单元，用于将所述控制终端输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号，所述控制单元的控制端与所述控制终端的输出端连接，所述控制单元的电源端与所述电源的输出端连接；至少一测试选择开关，用于在所述测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号，所述`测试选择开关的控制端与所述控制单元的测试选择输出端连接，所述测试选择开关的输入端与所述控制单元的上电测试指令输出端连接；电源控制单元，用于选择输出一个或多个所述测试电源电压，所述电源控制单元的输入端与一个或多个所述电源的输出端连接；至少一可控开关单元，用于在上电测试指令信号的控制下导通或关断，并于导通时利用所述测试电源电压对所述待测设备进行上电测试，所述可控开关单元的控制端与所述测试选择开关的输出端连接，所述可控开关单元的输入端与所述电源控制单元的输出端连接，所述可控开关单元的输出端与所述待测设备的电源端连接；所述测试选择开关与所述可控开关单元的数量相等。进一步地，所述控制单元为基于ARM架构的MCU，所述控制单元的控制端、测试选择输出端和上电测试指令输出端均为串行数据通信接口。更进一步地，所述控制单元的测试选择输出端和上电测试指令输出端均为GPIO接口。更进一步地，所述控制单元和所述待测设备均通过232、485或TTL协议进行数据传输。更进一步地，所述测试选择开关为N型MOS管，所述N型MOS管的栅极为所述测试选择开关的控制端，所述N型MOS管的漏极为所述测试选择开关的输入端，所述N型MOS管的栅极为所述测试选择开关的输出端。更进一步地，所述电源控制单元包括:第一导通模块和第二导通模块；所述电源控制单元的第一输入端同时与所述电源控制单元的第一输出端和所述第一导通模块的第一输入端连接，所述电源控制单元的第二输入端同时与所述电源控制单元的第二输出端和所述第一导通模块的第二输入端连接，所述电源控制单元的第二输出端还同时与所述第一导通模块的输出端和所述第二导通模块的第一输入端连接，所述电源控制单元的第三输入端同时与所述电源控制单元的第三输出端和所述第二导通模块的第二输入端连接，所述电源控制单元的第三输出端还与所述第二导通模块的输出端连接。更进一步地，所述可控开关单元为继电器，所述继电器的线圈端为所述可控开关单元的控制端，所述继电器的公共端为所述可控开关单元的输入端，所述继电器的常开端为所述可控开关单元的输出端。更进一步地，所述电源为多个，分别为第一电源和第二电源；所述第一电源和所述第二电源的输出端分别与所述电源控制单元的第一输入端和第二输入端连接。更进一步地，所述测试选择开关和所述可控开关单元均为多个；多个测试选择开关的控制端均与所述控制单元的一个或多个测试选择输出端连接，多个测试选择开关的输入端均与所述控制单元的一个或多个上电测试指令输出端连接，多个测试选择开关的输出端分别与多个可控开关单元的控制端连接，多个可控开关单元的输入端分别与所述电源控制单元的多个输出端连接，多个可控开关单元的输出端分别与多个待测设备的电源端连接。本专利技术实施例的另一目的在于提供一种采用上述上下电测试电路的上下电的测试装置。本专利技术实施例通过指令控制可控开关单元闭合或关断，实现对待测设备上下电的自动化测试，无需购买软件，测试成本低，并且可以同时进行多路测试，测试装置简单，体积小，测试效率高。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术实施例提供的上下电测试电路的结构图；图2为本专利技术实施例提供的多路相同电压的上下电测试电路的结构图；图3为本专利技术实施例提供的三路两种电压的上下电测试电路的结构图；图4为本专利技术实施例提供的三路三种电压的上下电测试电路的结构；图5为本专利技术实施例提供的三路三种电压的上下电测试电路中电源控制单元的结构图。【具体实施方式】为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例通过指令控制可控开关单元闭合或关断，实现对待测设备上下电的自动化测试，无需购买软件，测试成本低，并且可以同时进行多路测试，测试装置简单，体积小，测试效率高。以下结合具体实施例对本专利技术的实现进行详细描述:图1示出了本专利技术实施例提供的上下电测试电路的结构，为了便于说明，仅示出了与本专利技术相关的部分。作为本专利技术一实施例，该上下电测试电路可以应用于各种上下电的测试装置中。该上下电测试电路I与控制终端PC和待测设备2连接，该电路包括:至少一电源11，用于提供工作电源电压以及测试电源电压；控制单元12，用于将控制终端PC输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号，该控制单元12的控制端与控制终端PC的输出端连接，控制单元12的电源端与电源11的输出端连接；作为本专利技术一实施例，该控制单元12可以采用基于ARM(Advanced RISC Machine)架构的MCU (Micro Controller Unit)实现,控制单元12的控制端、测试选择输出端和上电测试指令输出端均可以采用串行数据通信接口，尤其适用通用输入/输出(GeneralPurpose Input Output，GP10)接口，控制单元12和待测设备2均可以采用232、485或TTL协议进行数据传输。当然，控制单元12也可以采用分离元件构成的电路实现。至少一测试选择开关13，用于在测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号，该测试选择开关13的控制端与控制单元12的测试选择输出端连接，测试选择开关13的输入端与控制单元12的上电测试指令输出端连本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种上下电测试电路，其特征在于，所述电路与控制终端和待测设备连接，所述电路包括：至少一电源，用于提供工作电源电压以及测试电源电压；控制单元，用于将所述控制终端输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号，所述控制单元的控制端与所述控制终端的输出端连接，所述控制单元的电源端与所述电源的输出端连接；至少一测试选择开关，用于在所述测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号，所述测试选择开关的控制端与所述控制单元的测试选择输出端连接，所述测试选择开关的输入端与所述控制单元的上电测试指令输出端连接；电源控制单元，用于选择输出一个或多个所述测试电源电压，所述电源控制单元的输入端与一个或多个所述电源的输出端连接；至少一可控开关单元，用于在上电测试指令信号的控制下导通或关断，并于导通时利用所述测试电源电压对所述待测设备进行上电测试，所述可控开关单元的控制端与所述测试选择开关的输出端连接，所述可控开关单元的输入端与所述电源控制单元的输出端连接，所述可控开关单元的输出端与所述待测设备的电源端连接；所述测试选择开关与所述可控开关单元的数量相等。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：丁志鹏，孙鑫，
申请(专利权)人：深圳市宏电技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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