【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种面向AES算法电路的差分功耗攻击测试方法，AES算法是一种广泛应用的分组对称密码算法，本专利技术对AES密码算法电路在设计阶段进行功耗攻击测试时，对功耗样本的获取及处理步骤如下:（1）功能仿真及功耗样本获取（2）功耗样本预处理（3）假设功耗样本获取（4）相关系数的计算和攻击结果分析。本专利技术仅采样有变化的功耗点，节省大量功耗样本数据，大幅降低功耗攻击计算量，具有评估效率高、速度快的优点，更重要的是，能够在电路设计阶段进行功耗攻击测试，从而提前评估密码电路的抗攻击能力，降低AES电路的流片风险。【专利说明】面向AES算法电路的差分功耗攻击测试方法
本专利技术涉及集成电路的信息安全领域，具体涉及面向AES算法电路的差分功耗攻击测试方法。
技术介绍
进入21世纪，科技迅猛发展，社会信息化已经是大势所趋，生活变得信息化，数字化和网络化，人们对信息的依赖性不断增强。随着计算机、网络、通讯技术与集成电路技术的发展，安全芯片被广泛应用于自动取款机(Automatic Teller Machine, ATM)的银行卡，小区或公司环境的门禁...
【技术保护点】
一种面向AES（Advanced?Encryption?Standard，高级加密标准）算法电路的差分功耗攻击测试方法，其特征在于，包括以下步骤:步骤一：功能仿真和功耗样本获取，在电路设计仿真阶段，在电路功能仿真验证的基础上，采用Prime?Time?PX功耗仿真工具对仿真结果进行功耗信息提取，将得到的一系列瞬态功耗值作为采样的功耗样本信息；步骤二：功耗样本预处理，截取加解密时段的功耗样本构成功耗轨迹，并进行对齐处理，使功耗轨迹对齐于同一操作时刻；步骤三：假设功耗样本获取，基于汉明重量模型，选取合适的攻击点，使用随机明文和猜测密钥，推导计算假设功耗值矩阵；步骤四：相关系数的...
【技术特征摘要】
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。