壳体斜孔斜度测具制造技术

本实用新型专利技术提供一种壳体斜孔斜度测具，包括基体、导向套、测量杆、百分表、百分表支座和具有内斜面的标准样圈，基体具有高出基体1mm的凸台，凸台用于与壳体斜孔的斜面点贴紧，标准样圈可移除地设置在基体下方并且其内斜孔与凸台贴紧用于将百分表对零，前述百分表在标准样圈的内斜孔深度为3mm时对零并使得测量杆与壳体斜孔的接触点的宽度是0.353mm，前述测量杆通过基体上的导向套与壳体斜孔在宽度0.353mm的位置接触而测量出斜面的深度位置，其中标准样圈内斜面的倾角与壳体斜孔斜度的标准尺寸相同。这样在测量时利用标准样圈先将百分表对零，然后在对零件进行测量，通过观察其读数差而获得零件斜孔的斜度是否合格,可使复杂的斜孔斜度测量变得简单易操作。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供一种壳体斜孔斜度测具，包括基体、导向套、测量杆、百分表、百分表支座和具有内斜面的标准样圈，基体具有高出基体1mm的凸台，凸台用于与壳体斜孔的斜面点贴紧，标准样圈可移除地设置在基体下方并且其内斜孔与凸台贴紧用于将百分表对零，前述百分表在标准样圈的内斜孔深度为3mm时对零并使得测量杆与壳体斜孔的接触点的宽度是0.353mm，前述测量杆通过基体上的导向套与壳体斜孔在宽度0.353mm的位置接触而测量出斜面的深度位置，其中标准样圈内斜面的倾角与壳体斜孔斜度的标准尺寸相同。这样在测量时利用标准样圈先将百分表对零，然后在对零件进行测量，通过观察其读数差而获得零件斜孔的斜度是否合格,可使复杂的斜孔斜度测量变得简单易操作。【专利说明】壳体斜孔斜度测具
本技术涉及机械加工
，具体是一种测量斜孔斜面的工具。
技术介绍
现有的技术对一些斜孔工件斜度测量一般采用轮廓仪。对于图示产品孔口有深3.65mm的80° ±0.25°斜面需测量，孔位的斜度是图纸要求控制的。由于斜孔浅，产品外形大，轮廓仪在测量时不易找准产品孔的母线，孔的母线不准，测量出来的数据误差会很大。这样的测量方法耗时很长，不易测量准确，也不适合大批量的生产需要。
技术实现思路
本技术目的在于提供一种改进的壳体斜孔斜度测具，可使复杂的斜孔斜度测量变得简单易操作。为达成上述目的，本技术所采用的技术方案如下:一种壳体斜孔斜度测具，包括基体、导向套、测量杆、百分表、百分表支座和具有内斜面的标准样圈，前述基体具有高出基体Imm的凸台，该凸台用于与壳体斜孔的斜面点贴紧，前述标准样圈可移除地设置在基体下方并且其内斜孔与凸台贴紧用于将百分表对零，前述百分表在标准样圈的内斜孔深度为3mm时对零并使得测量杆与壳体斜孔的接触点的宽度是0.353_，前述测量杆通过基体上的导向套与壳体斜孔在宽度0.353mm的位置接触而测量出斜面的深度位置。进一步，前述标准样圈内斜面的倾角与壳体斜孔斜度的标准尺寸相同。进一步，前述标准样圈内斜面的倾角为80°。由以上本技术的技术方案可知，本技术的有益效果在于利用标准样圈先将百分表对零，百分表在对表样圈内斜孔深度为3mm时对零，此时测量杆与产品斜孔接触点的宽度是0.353mm，然后移除标准样圈再对零件的斜孔斜面进行测量，观察其读数差，如果范围在±0.05(通过对80° ±0.25°斜面在宽度0.353时的深度变化计算得出的数据)，则为合格品。这样可使复杂的斜孔斜度测量变得简单易操作。【专利附图】【附图说明】图1a为开利壳体产品的结构示意，图1b为图1a中的A部分结构的局部放大示意图，放大比例是4倍。图2为本实施例的斜度测具的结构示意图。图3a和3b为图2实施例的斜度测具中对零时的局部结构和位直关系不意图。图4为图2实施例的斜度测具在工作时的检测示意图。【具体实施方式】为了更了解本技术的
技术实现思路
，特举具体实施例并配合所附图式说明如下。如图2-4所示，根据本技术的较优实施例，壳体斜孔斜度测具包括基体1、导向套2、测量杆3、百分表4、百分表支座5和具有内斜面的标准样圈6，标准样圈6可移除地设置在基体I的下方，基体I具有高出基体1_的凸台7，该凸台用于与壳体斜孔的斜面点贴紧，标准样圈4可移除地设置在基体下方并且其内斜孔与凸台贴紧用于将百分表对零，本实施例中，如图3a和3b，百分表4在标准样圈的内斜孔深度为3mm时对零并使得测量杆3与壳体斜孔的接触点的宽度是0.353mm，在测量壳体斜孔斜度时，移除该标准样圈，测量杆3通过基体上的导向套与壳体斜孔在宽度0.353mm的位置接触而测量出斜面的深度位置。标准样圈6内斜面的倾角与壳体斜孔斜度的标准尺寸相同。本实施例中，参考图1，待测壳体斜孔的斜面的标准尺寸为80°，标准样圈内斜面的倾角为80°。参考图3a、3b和图4所示，在测量时，先在标准样圈上测量，将百分表4对零，获得测量杆与斜孔之间接触点的固定宽度是0.353mm，然后移除标准样圈6，开始测量壳体P的斜孔斜度，测量杆3通过基体上的导向套与壳体斜孔在宽度0.353mm的位置接触而测量出斜面的深度位置，此时百分表读数差在±0.05 (通过对80° ±0.25。斜面在宽度0.353mm时的深度变化计算得出的数据)内的零件为合格品，否则为不合格品。综上所述，本技术的壳体斜孔斜度测具利用标准样圈先将百分表对零，此时将获得测量杆与斜孔之间接触点的固定宽度，然后移除对零用的标准样圈，再根据前面获得的固定宽度对待测壳体的斜孔斜面进行测量，通过观察百分表的读数差从而检测出壳体斜孔的斜度是否合格，也即百分表读数差在±0.05 (通过对80° ±0.25°斜面在宽度0.353时的深度变化计算得出的数据)内的零件为合格品，否则为不合格品。这样可使复杂的内孔斜度测量变得简单易操作。虽然本技术已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本技术。本技术所属
中具有通常知识者，在不脱离本技术的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本技术的保护范围当视权利要求书所界定者为准。【权利要求】1.一种壳体斜孔斜度测具，其特征在于，包括基体、导向套、测量杆、百分表、百分表支座和具有内斜面的标准样圈，前述基体具有高出基体Imm的凸台，该凸台用于与壳体斜孔的斜面点贴紧，前述标准样圈可移除地设置在基体下方并且其内斜孔与凸台贴紧用于将百分表对零，前述百分表在标准样圈的内斜孔深度为3mm时对零并使得测量杆与壳体斜孔的接触点的宽度是0.353_，前述测量杆通过基体上的导向套与壳体斜孔在宽度0.353mm的位置接触而测量出斜面的深度位置。2.根据权利要求1所述的壳体斜孔斜度测具，其特征在于，前述标准样圈内斜面的倾角与壳体斜孔斜度的标准尺寸相同。3.根据权利要求2所述的壳体斜孔斜度测具，其特征在于，前述标准样圈内斜面的倾角为80°。【文档编号】G01B5/24GK203396343SQ201320457503【公开日】2014年1月15日 申请日期:2013年7月29日 优先权日:2013年7月29日 【专利技术者】华文磊 申请人:南京金城精密机械有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种壳体斜孔斜度测具，其特征在于，包括基体、导向套、测量杆、百分表、百分表支座和具有内斜面的标准样圈，前述基体具有高出基体1mm的凸台，该凸台用于与壳体斜孔的斜面点贴紧，前述标准样圈可移除地设置在基体下方并且其内斜孔与凸台贴紧用于将百分表对零，前述百分表在标准样圈的内斜孔深度为3mm时对零并使得测量杆与壳体斜孔的接触点的宽度是0.353mm，前述测量杆通过基体上的导向套与壳体斜孔在宽度0.353mm的位置接触而测量出斜面的深度位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：华文磊，
申请(专利权)人：南京金城精密机械有限公司，
类型：实用新型
国别省市：