【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种斜面探测的测试探针结构，它包括有两探针套，其特征在于：所述两探针套内分别固定有一测试探针，两测试探针相对设置，所述两测试探针的顶端均具有一斜面，该斜面与水平面的夹角小于90°，所述两测试探针可将测试元件夹持并进行测试。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：冯白华，贾延蝶，王振波，
申请(专利权)人：深圳市三一联光自动化设备有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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