一种选相开关校验装置及校验方法制造方法及图纸

技术编号:9405276 阅读:110 留言:0更新日期:2013-12-05 05:49
一种选相开关校验装置及校验方法,包括单片机MCU、滤波与隔离变换电路B1、隔离电路B2、上位计算机PC和三相选相开关PSS,单片机MCU的串行通讯接口和三相选相开关PSS的串行通讯接口与上位机PC的串行通讯接口连接;单片机MCU的PO1接口与滤波与隔离变换电路B1的SO的信号输入接口连接,滤波与隔离变换电路B1的IS信号输出接口与三相选相开关PSS的IP2接口连接;单片机MCU的D01、D02、D11、D12和D13接口分别与隔离电路B2的对应接口连接。利用本方法制造专门的设备进行自动校验,不需人工繁琐操作,避免了人为出错,提高了校验效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种选相开关校验装置,包括单片机MCU、滤波与隔离变换电路B1、隔离电路B2、上位计算机PC和三相选相开关PSS,其特征在于:单片机MCU的串行通讯接口COM1和三相选相开关PSS的串行通讯接口COM2与上位机PC的串行通讯接口COM0接口连接;单片机MCU的PO1接口与滤波与隔离变换电路B1的SO的信号输入接口连接,滤波与隔离变换电路B1的IS信号输出接口与三相选相开关PSS的IP2接口连接;单片机MCU的D01、D02、D11、D12和D13接口分别与隔离电路B2的F0信号输入接口、H0信号输入接口、AI信号输出接口、BI信号输出接口和CI信号输出接口对应连接;隔离电路B2的IF信号输出接...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张浩
申请(专利权)人:沈阳华岩电力技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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