辐照场识别制造技术

一种提取由数字信号表示所表示的X射线图像中的辐射场区的方法，包括以下步骤：将图像分割在多个像素区域内，该多个像素区域具有相似局部图像特点，将线段拟合到这些区域的边界，由此所述线段与候选的辐照场边界相对应并构成分割图，将所述分割图中的区域分类成至少两类，一类为辐照场而另一类为基于局部的、区域的和全局的图像特点中的至少一者的准直区域。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】辐照场识别
本专利技术涉及提取由数字信号表示所表示的X射线图像中的辐照场区的方法。
技术介绍
在数字射线照相术中，不透X射线的材料被用来保护受验者免于不必要地暴露于X射线，从而限制辐射散射以及获得记录介质(如，可受刺激荧光片)上的多个辐照场。当在显示装置上显示图像时，辐照场外侧的区域将具有高亮度。强光将对诊断的效率和精确度具有负面影响。因此，对辐照场以及所描绘的辐照场外侧的区域的黑化的自动识别是数字射线照相术图像的图像处理的重要部分。现有技术是基于边缘的。在数字灰度图像中搜索构成辐照场与不透X射线的材料的阴影之间的边界的像素。这些像素组合成候选线段，从而获得辐照场的正确描绘。对照通常为局部图像特点的规则组来评估候选线段。跟随用于该辐照场识别的这一总体构想的专利为EP0610605。基于该构想的另一专利为US5901240。这些基于边缘的途径在图像中几乎不可辨别出边缘的情况下可能失效。这是针对具有高散射辐射的图像的情况。在这些图像中，辐照场与不透X射线的材料的阴影之间的过渡不是边缘，而是逐渐的过渡带。可引起基于边缘的途径失效的另一种类的图像为辐照场与不透X射线的材料的阴影之间的具有很低本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.03.15 EP 11158188.0;2011.03.15 US 61/4528101.一种提取由数字信号表示所表示的X射线图像中的辐照场区的方法，所述方法包括以下步骤：a.将所述图像分割在具有相似局部图像特点的多个像素区域内，b.将线段拟合到所述区域的边界，由此所述线段与候选的辐照场边界相对应且构成分割图，其中，霍夫变换被应用到分割区域的边界，以拟合与候选的辐照场边界相对应的线段，c.将所述分割图中的区域分类成至少两类，一类为辐照场，而另一类为基于局部的、区域的和全局的图像特点中的至少一者的准直区域；其中，所述将所述图像分割在多个区域内是使用用以合并具有相似局部图像特点的区域的图像聚类而改善的，且所述聚类技术是具有基于分割区域的中间或平均灰度像素值，分割区域内的所述灰度像素值的标准偏差以及所述图像中的分割区域的位置中的至少一者的相似度的量度的分级聚类。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述图像分割在多个区域内是基于多标度分水岭分割。3.根据权利要求1所述的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：T伯坦斯，
申请(专利权)人：爱克发医疗保健公司，
类型：
国别省市：