【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种存储器坏点定位方法，其特征在于，所述方法包括：定位装置在定位模式下对满足预设条件的待测试存储器进行存储器内建自测MBIST测试，当所述MBIST测试发生错误时，停止测试；所述定位装置记录发生错误的当前坏点在存储器中的定位信息；所述定位装置从所述当前坏点开始，继续执行所述MBIST测试，定位存储器中的下一个坏点，直到将所述待测试存储器全部测试完。
【技术特征摘要】
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