基于β射线和PIV法测颗粒物浓度的装置制造方法及图纸

技术编号:9369562 阅读:175 留言:0更新日期:2013-11-21 23:33
本实用新型专利技术属于大气颗粒物浓度测量的技术领域,具体说涉及一种基于β射线和PIV法测颗粒物浓度的装置。本实用新型专利技术包括颗粒物采样机构、滤带传送机构、β射线放射机构以及β射线接收测量机构;颗粒物采样机构包括大气采样器和气泵;β射线放射机构包括β射线放射源;所述滤带传送机构包括滤带和第一滤带轮和第二滤带轮,本装置还包括补偿机构,补偿机构包括厚度均匀连续变化的衰减控制部件,衰减控制部件紧靠在β射线放射源的放射出口端,所述补偿机构还包括动力单元和PIV单元,所述PIV单元的光路照射方向与滤带纸面方向相交且两者间处于避让位置。本装置使用安全可靠,不但可实现PM2.5和PM10浓度的同时测量,而且测量精度较高。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于β射线和PIV法测颗粒物浓度的装置,本装置包括颗粒物采样机构、滤带传送机构、β射线放射机构以及β射线接收测量机构;所述颗粒物采样机构包括大气采样器(10)以及气泵(20),所述气泵(20)进气口与大气采样器(10)出气口彼此顺延对接设置且滤带传送机构带体穿设于其对接面处布置;所述β射线放射机构包括β射线放射源(30);所述滤带传送机构包括滤带(40),滤带传送机构还包括用于承托滤带(40)并使滤带(40)在大气采样器(10)出气口和β射线放射源(30)放射出口之间往复移动的第一滤带轮(41)和第二滤带轮(42),其特征在于:本装置还包括用于辅助测量颗粒物浓度的补偿机构,所述补偿机构包括厚度均匀连续变化的衰减控制部件(50),所述衰减控制部件(50)紧靠在β射线放射源(30)的放射出口端,所述补偿机构还包括驱动衰减控制部件(50)动作以使得穿过衰减控制部件(50)的β射线强度均匀连续变化的动力单元;本装置还包括布置于大气采样器(10)出气口与滤带(40)带面之间间隙处的用于测算已通过粒子流速的PIV单元(60),所述PIV单元(60)的光路照射方向与待测粒子行进方向相交设置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李保生邓迁李正强陈丽娟黄小濆
申请(专利权)人:合肥福瞳光电科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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