电抗器及其评价方法技术

本发明专利技术的电抗器包括具有伸入到空芯线圈的空芯部的突起部的磁芯，在突起部的前端或其附近的截面积为S，突起部之间的间隙长为g，间隙的导磁率为μ0，目标电感为L，匝数为N，线圈电流为I时的间隙的中央点或其附近的平均磁通量密度为Bc的情况下，将理想匝数N0、有效间隙长ge以及有效(突起基端部)截面积Se分别定义为ge=μ0·N·I／Bc、Se=L·ge／μ0／N2并求出，并且求出定义为α=N／N0、β=ge／g、γ=Se／S的标准化参数α、β、γ，以满足α/β1的方式，设定与磁芯以及突起部的材料的导磁率相对应的、空芯线圈的匝数N、突起部的前端截面积S、突起部的高度、以及突起部的基底形状。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：井上宪一，财津享司，桥本裕志，三谷宏幸，
申请(专利权)人：株式会社神户制钢所，
类型：
国别省市：