IC测试分类存储装置制造方法及图纸

技术编号:9340611 阅读:120 留言:0更新日期:2013-11-13 19:41
本实用新型专利技术涉及集成电路分装技术领域,公开了一种IC测试分类存储装置,包括IC检测单元、IC料盘单元、第一IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二IC输送单元,IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位,转盘单元设置在待检料盘存放位的前端,第一IC输送单元位于转盘单元和待检料盘存放位之间,旋转作业单元位于转盘单元的一侧,旋转作业单元包括至少一个转臂,转臂循环能够转动定位至转盘单元上方、IC检测单元上方和第二IC输送单元上方,依次实现吸取IC、检测IC和暂存IC,第二IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。本实用新型专利技术实现能IC的高速测试和高速分类。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种IC测试分类存储装置,包括IC检测单元、IC料盘单元,其特征在于,还包括第一IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二IC输送单元,所述IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位,所述转盘单元设置在所述待检料盘存放位的前端,所述第一IC输送单元位于所述转盘单元和所述待检料盘存放位之间,用于将待检料盘中的IC输送至所述转盘单元,所述旋转作业单元位于所述转盘单元的一侧,所述旋转作业单元包括至少一个转臂,所述转臂循环能够转动定位至所述转盘单元上方、所述IC检测单元上方和所述第二IC输送单元上方,依次实现吸取IC、检测IC和暂存IC,所述第二IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱玉萍岑刚焦建华
申请(专利权)人:嘉兴景焱智能装备技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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