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一种可测量AFM 力学参数的纳米探针制备方法技术

技术编号:9335801 阅读:528 留言:0更新日期:2013-11-13 13:56
本发明专利技术提供一种可测量AFM力学参数的纳米探针制备方法,制备纳米探针所需产品包括:无针尖微悬臂探针、直径为2-5um或5um-10um的微球、环氧乙烷树脂胶、专用调拌刀具、带有精确刻度的标准载玻片或者SEM、生物型AFM带有光学显微镜及成像系统;微悬臂的纳米探针和生物型AFM联用。该纳米探针制备方法无需每次成像完之后更换针尖、校准激光,再更换带微球的针去测量力学参数的步骤,使操作简单,使测量的力学参数更加准确。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种可测量AFM?力学参数的纳米探针制备方法,其特征在于,制备纳米探针所需产品包括:微悬臂探针、直径为2?5um的微球、环氧乙烷树脂胶、专用调拌刀具、带有精确刻度的标准载玻片或者SEM、生物型AFM带有光学显微镜及成像系统;所述微悬臂的纳米探针和生物型AFM联用;所述探针制备方法的步骤如下:?将微悬臂探针置入AFM,按正常操作步骤调定并聚焦激光光斑,其对准在即将粘固微球的区域;待调定激光并聚焦后,使获得合适的Sum?后,使激光光斑聚焦至四象限中心,撤退步进电机以及针头,放置载玻片以及载玻片上的微球;将微球预先铺在干净的载玻片的一侧区域内,并取下AFM扫描头,放置呈有微球的载玻片置AFM样品台固...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张宝平王记增刘斌刘英杰姚成福周又和
申请(专利权)人:兰州大学
类型:发明
国别省市:

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