一种基于光谱分析的保偏光纤长度测量系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于光谱分析的保偏光纤长度测量系统及其方法，测量系统包括SLD光源、待测保偏光纤、带保偏尾纤的起偏器、光谱仪、消光比测试仪、光纤适配器；测量方法，包括以下几个步骤：首先，构建Is测试光路；然后，设定SLD光源的保偏尾纤与待测保偏光纤的熔接角度θ2；第三，构建ERf测试光路；第四，构建ERp测试光路；第五，构建Iout测试光路；本发明专利技术系统测试装置简单，易操作；本发明专利技术系统测试系统稳定，测量数据准确；本发明专利技术系统提高了光纤环绕之前分纤的准确度，能够基本消除分纤时长度设定的困扰；本发明专利技术系统中采用带保偏尾纤的起偏器能够保证输出光波的光谱形状不受弯曲、应力等外界的影响。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于光谱分析的保偏光纤长度测量系统，包括SLD光源、待测保偏光纤、带保偏尾纤的起偏器、光谱仪、消光比测试仪、光纤适配器；构建Is测试光路，SLD光源的保偏尾纤通过光纤适配器与光谱仪连接，测得SLD光源输出光波的光谱形状，得到光谱中各单色光波的光强Is，SLD光源的输出光与保偏尾纤慢轴的夹角为θ1；根据实际需要，设定SLD光源的保偏尾纤与待测保偏光纤的熔接角度θ2；构建ERf测试光路，SLD光源发出的光沿保偏尾纤输出，进入待测保偏光纤，待测保偏光纤的另一端与光纤适配器连接，光纤适配器插入消光比测试仪的输入端，用消光比测试仪测得待测保偏光纤的输出光波的消光比ERf，Ix、Iy分别为输出光波沿待测保偏光纤慢轴和快轴方向的光强；构建ERp测试光路，在ERf测试光路的基础上，将光纤适配器从消光比测试仪的输入端拨出，插入起偏器的输入端，起偏器的保偏尾纤通过光纤适配器与消光比测试仪连接，调整起偏器透光轴使起偏器输出尾纤的消光比最大，记为ERp，得到待测保偏光纤的慢轴与起偏器的透光轴夹角θ3，θ3=arctan10ERf/10-10ERp/1010(ERp+ERf)/10-1;构建Iout测试光路，在θ3测试光路的基础上，起偏器输出尾纤连接的光纤适配器与光谱仪连接，测试输出光波的光谱，得到输出光强Iout，根据θ1、θ2、θ3、Is、Iout、ERf、ERp获取待测保偏光纤长度。FDA00003448588200011.jpg...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李彦，孙彦凤，宋凝芳，姜漫，宋镜明，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：