【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于磁粒子成像领域,具体涉及了一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法。
技术介绍
1、磁粒子成像(magnetic particle imaging,mpi)是一种断层成像技术,可以检测注入血液的氧化铁纳米颗粒的磁性,从而生成三维图像。近年来,由于其在不使用放射性物质的同时,还提高了成像分辨率的特点,磁粒子成像技术在多模态活体成像、血管成像、细胞示踪、细胞治疗监测、靶向药物递送、肿瘤成像、纳米粒子开发等领域得到广泛研究,临床转化也取得了突破性进展。
2、目前有两种传统的mpi重建方法:基于x空间(x-space)的方法和基于系统矩阵(sm)的方法。与基于x空间的方法相比,基于sm的方法实现了更高的图像质量,但系统矩阵测量耗时较长。这种方法需要复值的sm,它是通过耗时的校准过程获得的,该过程涉及测量mpi扫描仪在视野(fov)范围内的体素级响应,非常耗时。同时,mpi扫描仪的长时间运行会导致过热,从而产生热噪声并对成像性能产生负面影响。
3、稀疏采样可以加速校准,例如,获取37×37×37大小的系统矩
...【技术保护点】
1.一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,该算法包括:
2.根据权利要求1所述的一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,所述图像编码单元包括:
3.根据权利要求1所述的一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,所述特征处理单元包括并行工作的实部分支和虚部分支,所述实部分支用于处理所述实部特征,所述虚部分支用于处理所述虚部特征;
4.根据权利要求2或3所述的一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,第一频率分离增强模块和第二频率分离增强模块均包括:
5.根据权利
...【技术特征摘要】
1.一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,该算法包括:
2.根据权利要求1所述的一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,所述图像编码单元包括:
3.根据权利要求1所述的一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,所述特征处理单元包括并行工作的实部分支和虚部分支,所述实部分支用于处理所述实部特征,所述虚部分支用于处理所述虚部特征;
4.根据权利要求2或3所述的一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,第一频率分离增强模块和第二频率分离增强模块均包括:
5.根据权利要求1所述的一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,其特征在于,所述图像重建单元包括:
6.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:牟玮,许伟鑫,翟鹏华,田捷,
申请(专利权)人:北京航空航天大学,
类型:发明
国别省市:
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