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一种基于光谱分析的保偏光纤长度测量系统及其方法技术方案
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文档序号:9274463
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本发明公开了一种基于光谱分析的保偏光纤长度测量系统及其方法,测量系统包括SLD光源、待测保偏光纤、带保偏尾纤的起偏器、光谱仪、消光比测试仪、光纤适配器;测量方法,包括以下几个步骤:首先,构建Is测试光路;然后,设定SLD光源的保偏尾纤与待测...
该专利属于北京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京航空航天大学授权不得商用。
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