一种内置测试信号单元的OLED显示模组制造技术

技术编号:9264049 阅读:99 留言:0更新日期:2013-10-17 01:42
本实用新型专利技术为了解决现有的OLED测试工序效率低下和生产效率及良率不高的问题,提出了一种内置测试信号单元的OLED显示模组,包括OLED显示屏和驱动IC,所述驱动IC包括显示数据存储器DDRAM和输入接口MCU,其特征在于,所述驱动IC还包括一信号发生单元,所述信号发生单元与输入接口MCU和显示数据存储器DDRAM连接,用于提供OLED显示屏测试用信号,本实用新型专利技术的有益效果:本实用新型专利技术的OLED显示模组通过在OLED模组的驱动IC中嵌入信号发生单元,使进行OLED显示效果检测工序无需外接复杂的电源及信号发生器等模块,简化了OLED显示效果检测工序,降低了检测难度同时提高了检测效率。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种内置测试信号单元的OLED显示模组,包括OLED显示屏和驱动IC,所述驱动IC包括显示数据存储器DDRAM和输入接口MCU,其特征在于,所述驱动IC还包括一信号发生单元,所述信号发生单元与输入接口MCU和显示数据存储器DDRAM连接,用于提供OLED显示屏测试用信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:田朝勇周刚
申请(专利权)人:四川虹视显示技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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