一种新型光纤环性能评测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种新型光纤环性能评测装置，其包括结构本体、上加温片、密封罩、下加温片和固定在结构本体上的光源、光电探测器、Y波导、耦合器、光纤环部件、驱动和采集电路板；其中光源、光电探测器、Y波导通过耦合器相连，Y波导的另一端，上加温片、下加温片均与光纤环部件连接；所述驱动和采集电路板驱动光源、上加温片和下加温片工作并采集光电探测器输出的电信号；所述密封罩安装在结构本体上。本发明专利技术可以实现光纤环的快速安装，快速评测，能大幅度简化光纤环检测流程，提高光纤陀螺质量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种新型光纤环性能评测装置，其特征在于：包括结构本体（1）、上加温片（8）、密封罩（9）、下加温片（10）和固定在结构本体（1）上的光源（2）、光电探测器（3）、Y波导（4）、耦合器（5）、光纤环部件（6）、驱动和采集电路板（7）；其中光源（2）、光电探测器（3）、Y波导（4）通过耦合器5相连，Y波导（4）的另一端，上加温片（8）、下加温片（10）均与光纤环部件（6）连接；所述驱动和采集电路板（7）驱动光源（2）、上加温片（8）和下加温片（10）工作并采集光电探测器（3）输出的电信号；所述密封罩（9）安装在结构本体（1）上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：岑礼君，王一诚，梁仁仁，于中权，安锋，
申请(专利权)人：湖南航天远望测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：