固定于基座上的光学对中器的检校方法技术

本发明专利技术公开了一种固定于基座上的光学对中器的检校方法，它包括如下步骤：（a）、将待检仪器以横卧放置的方式放在备用基座上，保持待检仪器的基座悬在桌子边沿外侧并垂直朝向墙面；（b）、观察待检仪器的光学对中器的目镜，找出墙面上对应十字分划丝的位置，然后将准备好的十字丝刻划板贴在该位置；（c）、轻轻转动待检仪器的基座180°，再看两十字丝交叉点的相对位置关系，待检仪器的十字分划丝交叉点如果在十字丝刻划板上画的圆内，为合格；如果在圆外，为对中误差超差，则必须校正。本发明专利技术不仅快速方便、而且大大提高了校正精度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
固定于基座上的光学对中器的检校方法，其特征在于：它包括如下步骤：a、将备用基座放在朝墙面方向的桌子边沿，将待检仪器以横卧放置的方式横放在备用基座上，保持待检仪器的照准部不动而待检仪器的基座能自由转动，慢慢挪动待检仪器，通过调节备用基座的脚螺旋，让备用基座上设置的圆水准气泡居中，使备用基座处于初平状态以确保待检仪器大致与墙面垂直，且待检仪器的基座在自由转动时照准部稳固不动；b、观察待检仪器的光学对中器的目镜，找出墙面上对应十字分划丝的大致位置，然后将准备好的十字丝刻划板贴在该位置，转动待检仪器的基座，观察光学对中器的目镜，通过微调使光学对中器中的十字分划丝和墙面十字丝刻划板的十字丝都清晰可见，慢慢调节备用基座的三个脚螺栓，使光学对中器的十字分划丝与墙面十字丝刻划板的十字丝严格重合；c、保持待检仪器的照准部不动，轻轻转动待检仪器的基座180°，再观察光学对中器目镜，看光学对中器的所发射在墙面上的十字分划丝和十字丝刻划板的十字丝交叉点的相对位置关系，待检仪器的十字分划丝交叉点如果在十字丝刻划板上画的圆内，为合格；如果在圆外，为对中误差超差，则必须校正；d、将需要校正的待检仪器用螺丝刀调节光学对中器的校正螺钉，使两十字丝交点的距离缩小一半，然后再重复步骤(b)(c)(d)，直至合格。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：桂祁东，刘思农，何红玲，
申请(专利权)人：中国一冶集团有限公司，
类型：发明
国别省市：