一种周期性扫查超声波探伤数据快速封装及分析的方法技术

本发明专利技术公开一种周期性扫查超声波探伤数据快速封装及分析的方法，该方法包括如下步骤：对超声波多探头组合系统探伤数据进行矫正、封装；自动框选矫正、封装后的样板车轮人工缺陷探伤数据，进行标定、校验分析；校验合格后开展检测分析工作，进行缺陷判定。本发明专利技术可以自动封装车轮超声波检测的采集数据，对超声通道扫查起始位置和检测缺陷位置进行矫正，准确快速地提取缺陷信息。在标定和校验流程，缺陷指示框的框选程序能够对样板车轮人工缺陷图像自动框选，配合缺陷框平移指令，快速准确地完成标定、校验流程；在检测流程，引入伪缺陷辨别算法，采用自动判伤和手动判伤相结合进行缺陷判伤，提高多探头超声波检系统的缺陷检测效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种周期性扫查超声波探伤数据快速封装及分析的方法,其特征在于，该方法包括如下步骤：通过探伤数据的矫正封装程序，对超声波多探头组合系统自动探伤数据进行矫正、封装；自动框选矫正、封装后的样板轮人工缺陷探伤数据，进行标定、校验分析；校验合格后开展检测分析工作，进行缺陷判定。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张渝，彭建平，杨凯，彭朝勇，王黎，高晓蓉，赵全轲，王泽勇，章祥，谭优，房瑞晓，罗勇军，
申请(专利权)人：成都铁安科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：