快速正弦波绘图尺制造技术

本实用新型专利技术公开了一种快速正弦波绘图尺，包括：主刻度部分、正弦半波部分Ⅰ、正弦半波部分Ⅱ、横坐标刻度部分Ⅰ和横坐标刻度部分Ⅱ；所述快速正弦波绘图尺纵向左右两侧边缘设有主刻度部分；所述快速正弦波绘图尺内上部设有正弦半波部分Ⅰ，所述正弦半波部分Ⅰ底部设有横坐标刻度部分Ⅰ；所述正弦半波部分Ⅰ下方在快速正弦波绘图尺内部设有正弦半波部分Ⅱ，所述正弦半波部分Ⅱ底部设有横坐标刻度部分Ⅱ。本实用新型专利技术所述的一种快速正弦波绘图尺可以将一个或多个正弦波形光滑准确地画出，是一种学生绘图时使用的绘图尺。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种学生绘图时使用的绘图尺。
技术介绍
目前，电类相关专业的学生在学习三相交流电以及相关知识的时候，常常用两组正弦波形来表示三相电源中的相电压和线电压。但是绘制正弦波形时，保证波形光滑美观的同时既要考虑每组正弦波形的相位和幅值的关系，还要兼顾两组正弦波形之间的相位和幅值关系，学生往往感到有一定困难。如何能准确、美观绘制每个正弦波形，对准三相的相、线电压之间的相位，成为了人们急待解决的问题。
技术实现思路
本技术针对以上问题的提出，而研究设计一种快速正弦波绘图尺，用以解决现有的绘图尺，不能准确、美观绘制每个正弦波形，不能对准三相的相、线电压之间相位的缺点。本技术采用的技术手段如下:一种快速正弦波绘图尺，包括:主刻度部分、正弦半波部分1、正弦半波部分I1、横坐标刻度部分I和横坐标刻度部分II ;所述快速正弦波绘图尺纵向左右两侧边缘设有主刻度部分；所述快速正弦波绘图尺内上部设有正弦半波部分I，所述正弦半波部分I底部设有横坐标刻度部分I ;所述正弦半波部分I下方在快速正弦波绘图尺内部设有正弦半波部分II，所述正弦半波部分II底部设有横坐标刻度部分II。作为优选所述横坐标刻度部分I和横坐标刻度部分II上设有以/6为单位的刻度线，所述横坐标刻度部分II比横坐标刻度部分I靠左/6 ;所述横坐标刻度部分I的刻度量程为0- 31 ,所述横坐标刻度部分II的量程为(-31/6) - (5 31 /6)o`作为优选所述正弦半波部分II的幅值是正弦半波部分I的幅值的#倍。作为优选所述主刻度部分上设有毫米为单位的刻度线。作为优选正弦半波部分I和正弦半波部分II上设有镂空处。本技术所述的一种快速正弦波绘图尺可以将一个或多个正弦波形光滑准确地画出，通过正弦半波镂空底部的坐标可以准确找好正弦波形的相位，特别是三相电压中相电压和线电压之间的相位关系，不会画错。结构新颖、加工简便、成本低廉、使用方便、可反复使用、安全环保等优点，是一种学生绘图时使用的绘图尺。附图说明图1是本技术的结构示意图。具体实施方式如图1所示，一种快速正弦波绘图尺，包括:主刻度部分(I)、正弦半波部分I (2)、正弦半波部分II (3)、横坐标刻度部分I (4)和横坐标刻度部分II (5);所述快速正弦波绘图尺纵向左右两侧边缘设有主刻度部分(I);所述快速正弦波绘图尺内上部设有正弦半波部分I (2)，所述正弦半波部分I (2)底部设有横坐标刻度部分I (4);所述正弦半波部分I (2)下方在快速正弦波绘图尺内部设有正弦半波部分II (3)，所述正弦半波部分II (3)底部设有横坐标刻度部分II (5)。所述横坐标刻度部分I (4)和横坐标刻度部分II (5)上设有以n/6为单位的刻度线，所述单位刻度能够准确的对横向坐标进行量取，所述横坐标刻度部分II (5)比横坐标刻度部分I (4)靠左/6 ;所述横坐标刻度部分I (4)的刻度量程为O-Ji，所述横坐标刻度部分II (5)的量程为-(-JI/6)- (5 /6)。所述正弦半波部分II(3)的幅值是正弦半波部分I (2)的幅值的#倍。所述主刻度部分(I)上设有毫米为单位的刻度线，所述单位刻度能够准确的对纵向坐标进行量取。正弦半波部分I (2)和正弦半波部分II (3)上设有镂空处，所述镂空处能够供标记工具穿过进行标记。使用时，可以利用正弦半波部分I (2)的镂空部分的横坐标先确定好坐标轴的横轴刻度，根据幅值低的正弦半波部分I (2)的镂空部分先画出一个正弦波形的正半周期，将尺子倒过来画出另半个周期即可。根据三相电源相电压之间的关系，横坐标向后移动n/3，用同样的方法即可画出三相中的第二个正弦波形表示第二相电压，以此类推将三个正弦波形在同一个坐标轴中画出。之后将坐标轴纵轴对齐，在下一个坐标轴中根据幅值高的正弦半波部分II (3)的镂空部分用同样的方法，就可以画出相位和幅值不同而周期相同的另外一组六个正弦波形，用来表不三相的线电压。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其专利技术构 思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种快速正弦波绘图尺，其特征在于包括:主刻度部分(I)、正弦半波部分I (2)、正弦半波部分II (3)、横坐标刻度部分I (4)和横坐标刻度部分II (5);所述快速正弦波绘图尺纵向左右两侧边缘设有主刻度部分(I);所述快速正弦波绘图尺内上部设有正弦半波部分I (2)，所述正弦半波部分I (2)底部设有横坐标刻度部分I (4);所述正弦半波部分I(2)下方在快速正弦波绘图尺内部设有正弦半波部分II(3)，所述正弦半波部分II (3)底部设有横坐标刻度部分II (5)。2.根据权利要求1所述的一种快速正弦波绘图尺，其特征在于:所述横坐标刻度部分I (4)和横坐标刻度部分II (5)上设有以/6为单位的刻度线，所述横坐标刻度部分II (5)比横坐标刻度部分I (4)靠左/6;所述横坐标刻度部分I (4)的刻度量程为O-，所述横坐标刻度部分II (5)的量程为(-Ji/6) - (5 Ji /6)03.根据权利要求1所述的一种快速正弦波绘图尺，其特征在于:所述正弦半波部分II(3)的幅值是正弦半波部分I(2)的幅值的万倍。4.根据权利要求1所述的一种快速正弦波绘图尺，其特征在于:所述主刻度部分(I)上设有毫米为单位的刻度线。5.根据权利要求1所述的一种快速正弦波绘图尺，其特征在于:正弦半波部分I(2)和正弦半波部分II (3)上 设有镂空处。专利摘要本技术公开了一种快速正弦波绘图尺，包括主刻度部分、正弦半波部分Ⅰ、正弦半波部分Ⅱ、横坐标刻度部分Ⅰ和横坐标刻度部分Ⅱ；所述快速正弦波绘图尺纵向左右两侧边缘设有主刻度部分；所述快速正弦波绘图尺内上部设有正弦半波部分Ⅰ，所述正弦半波部分Ⅰ底部设有横坐标刻度部分Ⅰ；所述正弦半波部分Ⅰ下方在快速正弦波绘图尺内部设有正弦半波部分Ⅱ，所述正弦半波部分Ⅱ底部设有横坐标刻度部分Ⅱ。本技术所述的一种快速正弦波绘图尺可以将一个或多个正弦波形光滑准确地画出，是一种学生绘图时使用的绘图尺。文档编号B43L11/00GK203110693SQ20132013233公开日2013年8月7日 申请日期2013年3月21日 优先权日2013年3月21日专利技术者陈晓娟 申请人:大连职业技术学院本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快速正弦波绘图尺，其特征在于包括：主刻度部分（1）、正弦半波部分Ⅰ（2）、正弦半波部分Ⅱ（3）、横坐标刻度部分Ⅰ（4）和横坐标刻度部分Ⅱ（5）；所述快速正弦波绘图尺纵向左右两侧边缘设有主刻度部分（1）；所述快速正弦波绘图尺内上部设有正弦半波部分Ⅰ（2），所述正弦半波部分Ⅰ（2）底部设有横坐标刻度部分Ⅰ（4）；所述正弦半波部分Ⅰ（2）下方在快速正弦波绘图尺内部设有正弦半波部分Ⅱ（3），所述正弦半波部分Ⅱ（3）底部设有横坐标刻度部分Ⅱ（5）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓娟，
申请(专利权)人：大连职业技术学院，
类型：实用新型
国别省市：