一种用于NAPLs污染砂性土场地勘察的原位连续贯入触探探头制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于NAPLs污染砂性土场地勘察的原位连续贯入触探探头。在传统静力触探仪的探杆与摩擦桶间安装时域反射测试探头；该时域反射测试探头结构如下：中空的Derlin棒外表面嵌入对称的六根不锈钢针并与Derlin棒用螺钉固定；两根同轴电缆内导体分别与Derlin棒上端的，并且通过直径的一对螺钉焊接，位于所述一对螺钉两侧的相邻两个螺钉各自为一组，分别与各自同轴电缆外导体焊接。该触探探头可以快速、连续、准确的测得不同深度土层的介电常数、电导率、锥尖阻力和侧摩阻力。利用这些电学和力学参数可鉴定NAPLs污染砂性土场地污染区域及污染程度。本实用新型专利技术为NAPLs污染场地的快速筛查提供了有力的工具。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及勘测触探探头，尤其是涉及一种用于NAPLs污染砂性土场地勘察的原位连续贯入触探探头。
技术介绍
随着化工产业的发展以及化工产品的普遍使用，以燃油(如柴油)、氯代烃(如四氯化碳)、芳香胺(如苯胺)等为代表的非水相液体(NAPLs)对土壤及地下水的污染问题逐渐凸显出来。此类型的污染场地因具有污染区域空间分布离散性大、污染物迁移深度深的特点，从而造成了勘察的困难。对于NAPLs污染场地，传统的勘察方法是在现场钻孔取样然后在实验室内进行化学分析。该方法存在耗时、取原状样困难、费用高的缺点，因此，如何快速、准确、经济的勘测污染区域的范围及污染程度，是这类污染场地修复面临的首要环节。近年来，国外诸多学者都实验发现了土介质的电学性质(介电常数、电导率)能有效表征土壤中NAPLs的含量，可作为NAPLs污染土的检测指标。因此专利技术一种能够快速、连续、准确获得污染场地中不同土层电学性质的触探探头，对NAPLs污染场地的快速筛查具有重要的价值。原位静力触探(CPT)仪可以快速、连续贯入并测试各土层的力学特性(即锥尖阻力和侧摩阻力)，是岩土工程勘察中常用工具。目前，针对污染场地的原位勘察，国本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于NAPLs污染砂性土场地勘察的原位连续贯入触探探头，包括探杆，在探杆下面依次设有摩擦桶和圆锥形探头；其特征在于：在所述探杆与摩擦桶之间还装有时域反射法测试探头；该时域反射法测试探头的结构如下：在中空的Derlin棒的上端与探杆用螺纹连接；在Derlin棒中部的一段圆柱面上嵌入对称分布的六根不锈钢针；六根不锈钢针上、下端与Derlin棒分别用螺钉固定；两根同轴电缆从探杆经上端的Derlin棒中空部分穿入，其中不锈钢针上端且通过Derlin棒直径的一对螺钉分别与各自同轴电缆内导体焊接，位于所述一对螺钉两侧的相邻两个螺钉各自为一组，分别与各自同轴电缆外导体焊；摩擦桶的上端与Derlin棒下端...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：詹良通，穆青翼，陈云敏，柯瀚，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：实用新型
国别省市：