一种开发调试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种开发调试装置，涉及电路设计领域。适用于FPGA系统的开发调试装置和FPGA系统。将待查看的FPGA系统内某个或某块数据内容从待测试信号接口输入到DSP处理器中，DSP处理器将输入数据块缓存到SRAM中，或将输入数据赋给DSP中定义的变量，利用DSP调试软件查看DSP某段数据或某变量的变化过程，实时监控FPGA内部数据处理工作过程。当需分析FPGA内部数据处理中间过程或者处理结果数据时，将待查看数据通过DSP使用USB传输到PC机上进行分析数据处理各阶段的工作状况。当需查看FPGA内部信号波形关系时，通过示波器接口使用示波器实时地查看。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路设计领域，特别涉及一种开发调试装置。
技术介绍
现在很多场合都采用FPGA系统作为其数据处理的核心器件，并且其数据处理量相当巨大，导致FPGA系统需要交互处理大量数据，使得整个FPGA系统开发流程中的实时验证和调试成为当前FPGA系统的关键部分。由于数据量大，数据处理过程复杂，同时，数据处理前FPGA需要对大量数据进行缓存，数据处理时需要和缓存进行交互，且计算的中间过程和计算结果也需要缓存。同时数据单元需要具有高的可靠性和实时性，这就要求FPGA系统在交互处理数据时的各个阶段保证数据正确性。然而，获得FPGA内部信号有限，使得设计调试和检验变成了设计周期中最困难的流程。因此，非常有必要研制一套开发调试装置，适用于FPGA系统的开发调试，以提高大数据处理应用场合FPGA的开发调试效率。目前，针对FPGA的开发调试方法主要有以下两种方法:第一种是利用逻辑分析仪，逻辑分析仪是FPGA调试阶段不可缺少的工具，但逻辑分析仪有两个弊端:首先价格昂贵；其次需要使用大量探头，不仅不合实际，且存在误触而导致短路隐患和操作麻烦。第二种是通过FPGA开发软件自带的在线逻辑分析仪(ChipS本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种开发调试装置，其特征在于，适用于FPGA系统的开发调试；其中，所述开发调试装置包括：DSP处理器、SRAM数据存储器、CPLD、异步串行接口、电平转换单元、JTAG接口、待测试信号接口；所述DSP处理器分别与SRAM数据存储器、CPLD、电平转换单元、JTAG接口和待测试信号接口电连接；所述电平转换单元与异步串行接口电连接；所述FPGA系统包括：待测试信号插座，所述插座的各引脚分别与FPGA系统内部IO接口相连；所述待测试信号插座与所述待测试信号接口相匹配。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李进，李国宁，王文华，张宁，朱鹏，
申请(专利权)人：李进，李国宁，王文华，张宁，朱鹏，
类型：实用新型
国别省市：