一种医用薄膜厚度测量设备制造技术

本发明专利技术公开一种医用薄膜厚度测量设备，包括有底座、设置于底座上的工件台、设置于工件台上的一框式结构、设置于框式结构的上、下横梁上的双立式测头；所述双立式测头包括有上测头与下测头，其中上测头能根据医用生物工程组织薄膜厚度变化而自动调整相对高度，而下测头具有调整与上测头光束同轴度功能；测量过程中，上、下测头同步左右运动，而被测的医用生物工程组织薄膜被固定在两个测头中间的工件台上，并随工件台做前后运动。本发明专利技术采用非接触式测量方式、双立式测头布局，自动对整个幅面的医用生物工程组织薄膜进行扫描式测量，测量过程对医用生物工程组织薄膜无任何损伤，测量精度高、性能稳定。?

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于医用生物工程组织薄膜厚度测量设备
，尤其涉及一种医用薄膜厚度测量设备。
技术介绍
各类心脑血管疾病已成为人类的常见疾病，医学上针对该类疾病的介入式手术应用越来越广泛，对介入式器械的需求也逐年增加。医用支架作为介入式器械中的一种，已早在临床试验中表明具有很好的抑制心脑血管疾病的疗效，已被广泛应用于解除该类病患。医用支架发展到今天，应用于医用支架中的材料有316L、镊钛合金、钴基合金、纯铁、镁合金等金属和高分子等非金属材料。根据最新介入式医疗技术研究表明，介入式手术成功与否与介入式产品自身与人体生物组织相容性密切相关，相容时间更快、相容程度更好，而这取决于介入式器械与人体生物组织相容性，最终决定介入式手术的成败。正因为此，医学支架与人体生物组织相容性问题成为研究热点。传统金属支架一般均是通过激光加工及相关后处理工序进行表面处理、并组装成医用支架系统，从而直接通过介入式手术从动脉植入人体血管病患处，并在病患处与人体血管壁直接接触，在手术后3飞个月内观察该医用支架是否最终与人体血管组织相容，不会发生相互排斥问题而导致手术失败，实验证明这种直接将医用金属支架与人体接触的介入式手术成功率并不高。为了进一步提高介入式手术成功率，一种在金属支架外表面贴合一层生物工程组织薄膜的编织支架正在逐步得到应用，该支架通过在医用金属支架外表面通过压合技术将一层类似心脏薄膜的生物工程组织贴合在医用金属支架外表面，使得该支架被植入人体后，直接是通过该生物工程组织与人体血管壁接触，两者能直接相容，不会产生额外排斥作用，极大提高了介入式手术成功率。但该编织支架加工过程中，对被贴合在医用金属支架外表面的类似心脏薄膜的生物工程组织厚度均匀性提出较高要求，一旦该表层厚度均匀性不好，将会导致整个编织支架外层张力不均匀性，从而使得该支架外表面与血管壁贴合效果不一致，并影响两者的相容性，并最终造成介入式手术成功率没有本质性提高。目前，市场上并没有专业用于精密测量医用生物工程组织薄膜的相关设备，因此，业界急需探索出一种方案，以提供一种专业用于医用生物工程组织薄膜厚度测量的测量设备。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种医用薄膜厚度测量设备，以解决目前市场上并没有专业针对医用生物工程组织薄膜厚度进行自动测量的设备的问题，为生产质量合格且符合介入式手术要求的编织支架提供硬件保障。为实现上述目的，本专利技术的技术方案为: 一种医用薄膜厚度测量设备，包括有底座、设置于底座上的工件台、设置于工件台上的一框式结构、设置于框式结构的上、下横梁上的双立式测头；所述双立式测头包括有上测头与下测头，其中上测头能根据医用生物工程组织薄膜厚度变化而自动调整相对高度，而下测头具有调整与上测头光束同轴度功能；测量过程中，上、下测头同步左右运动，而被测的医用生物工程组织薄膜被固定在两个测头中间的工件台上，并随工件台做前后运动。进一步地，测量时，采用非接触扫描测量方式，测量过程中上、下测头不与医用生物工程组织薄膜接触。进一步地，所述花岗岩平台上固定有直线轴Y轴，而与Y轴相互垂直的直线轴X轴位于固定龙门上。进一步地，所述框式结构的上横梁上固定有Z轴。进一步地，所述上测头固定在上下运动的Z轴上，而下测头被固定在框式结构的下横梁上的精密二维角度调整平台上；通过该调整平台调整下测头相对上测头的测量光束同轴性，确保上下测量测头在测量过程中对射在医用生物工程组织薄膜同一个点上。进一步地，所述上测头上可相对下测头进行Z轴相对高度自动调整。本专利技术医用薄膜厚度测量设备采用非接触式测量方式、双立式测头布局，自动对整个幅面的医用生物工程组织薄膜进行扫描式测量，测量过程对医用生物工程组织薄膜无任何损伤，测量精度高、性能稳定。附图说明图1是本专利技术的医用薄膜厚度测量设备结构图示。图2是本专利技术采用双立式测头测量医用生物工程组织薄膜厚度的原理图示。具体实施例方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。请参照图1-图2所示，本专利技术医用薄膜厚度测量设备包括有采用天然花岗岩材料制作的底座1、工件台4、设置于工件台上的一框式结构10、设置于框式结构10的上、下横梁上的双立式测头7，6，上测头7能根据医用生物工程组织薄膜厚度变化而自动调整相对高度，下测头6具有调整与上测头光束同轴度功能，测量过程中，上、下测头同步左右运动，而被测的医用生物工程组织薄膜被固定在两个测头中间的工件台上，并随工件台做前后运动。采用非接触扫描测量方式，测量过程中测头7，6不会与医用生物工程组织薄膜接触，从而确保该医用生物工程组织薄膜在测量过程中不被损坏。并且，整个测量平台结构稳定，测量精度高，操作方便，对医用生物工程组织薄膜无损伤，满足编织支架医用生物工程组织薄膜厚度测量需求。如图1所示，本专利技术医用薄膜厚度测量设备采用天然花岗岩平台作为测量平台底座，直线轴Y轴2位于固定的花岗岩平台上，与Y轴相互垂直的直线轴X轴3位于固定龙门上。本专利技术采用双立式测头布局，其中上测头7固定在上下运动的Z轴8上，而Z轴固定在框式结构10的上横梁9上，下测头6被固定在框式结构10的下横梁11上的精密二维角度调整平台5上，可通过该调整平台调整下测头相对上测头的测量光束同轴性，确保上下测量测头在测量过程中对射在医用生物工程组织薄膜同一个点上，而上测头上可相对下测头进行Z轴相对高度自动调整。测量时，将医用生物工程组织薄膜放置在工件台4上，开始测量，上、下测头将同步左右运动，而被测医用生物工程组织薄膜在工件台上随Y轴前后运动，采用自动扫描方式对医用生物工程组织薄膜进行非接触式测量。如图2所示，其示出了本专利技术采用双立式测头测量医用生物工程组织薄膜厚度的原理，测量时，先将标准块放置在工件台上，测量标准块厚度以对测量基准进行校零。再将标准块取下，换成医用生物工程组织薄膜，对某个测量点进行点动测量或是进行扫描式测量。假定被测网板厚度为I标准网板厚度为A，则实际被测物厚度为S=A-(x-a)-(y-b)。 本专利技术医用薄膜厚度的测量设备，采用双立式测头布局方式，且测量过程中上、下测头同步运动，测量精度高；而采用非接触测量方式，测量过程中，上、下测头并不与医用生物工程组织薄膜接触，确保对医用生物工程组织薄膜无损伤；另外，采用扫描测量方式，不仅能测量医用生物工程组织薄膜上某个点的厚度，还能测量整张医用生物工程组织薄膜的厚度均匀性；测量过程自动完成，不需人工干预，提高测量精度和操作便利性。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种医用薄膜厚度测量设备，包括有底座、设置于底座上的工件台?，其特征在于：还包括有设置于工件台上的一框式结构、设置于框式结构的上、下横梁上的双立式测头；所述双立式测头包括有上测头与下测头，其中上测头能根据医用生物工程组织薄膜厚度变化而自动调整相对高度，而下测头具有调整与上测头光束同轴度功能；测量过程中，上、下测头同步左右运动，而被测的医用生物工程组织薄膜被固定在两个测头中间的工件台上，并随工件台做前后运动。

【技术特征摘要】
1.一种医用薄膜厚度测量设备，包括有底座、设置于底座上的工件台，其特征在于:还包括有设置于工件台上的一框式结构、设置于框式结构的上、下横梁上的双立式测头；所述双立式测头包括有上测头与下测头，其中上测头能根据医用生物工程组织薄膜厚度变化而自动调整相对高度，而下测头具有调整与上测头光束同轴度功能；测量过程中，上、下测头同步左右运动，而被测的医用生物工程组织薄膜被固定在两个测头中间的工件台上，并随工件台做前后运动。2.如权利要求1所述的医用薄膜厚度测量设备，其特征在于:测量时，采用非接触扫描测量方式，测量过程中上、下测头不与医用生物工程组织薄膜接触。3.如权利要求2所述的医...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏志凌，宁军，夏发平，
申请(专利权)人：昆山思拓机器有限公司，
类型：发明
国别省市：