一种单轴气浮台精密测量误差校正方法技术

技术编号:8933593 阅读:261 留言:0更新日期:2013-07-18 01:47
一种单轴气浮台精密测量误差校正方法,涉及测量技术领域。本发明专利技术为了解决现有的转角测量误差校正方法存在精度不稳定,补偿效果较差等问题。步骤如下:将气浮台调节平衡并用计算机的读数αi(i=1,2,…,17)减去选定的检测角βi(i=1,2,…,17),其结果等于气浮台的转角误差值yi(i=1,2,…,17);根据公式取xi=i(i=1,2…17)进行线性插值校正,分别求出16个线性分段函数,对计算机显示的光栅角度进行校正;然后测量新的转角误差值zi(i=1,2,…,17),根据公式进行谐波校正,求出谐波校正函数,对计算机显示的光栅角度进行校正,得到最终转角误差值si(i=1,2,…,17),并判断转角误差值是否大于精度要求,若是,重新进行谐波校正,否则处理最终结果。本发明专利技术气浮台精密测量误差校正方法,结构简单、成本低、测角精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及,涉及测量

技术介绍
单轴气浮台是为现代卫星姿态控制而研制的多功能的全物理仿真平台,其原理是通过喷射压缩空气使该平台悬浮于空中,因而整个系统具有阻尼小的优点。我们在计算干扰力矩的时候,必须知道其角速度和角加速度,所以其转角测量精度的高低直接影响了卫星姿态控制系统的物理仿真效果。目前国内工程实际和现有文献中对于转角测量误差校正方法存在成本高,算法复杂,在高精度场合应用受到限制,没有充分利用现有的精密测量仪器;或者过于依赖现有的精密仪器,只进行了简单校正,其模型过于理想化,工程实践效果不好,测角精度不稳定,补偿效果较差。
技术实现思路
本专利技术为了解决现有的转角测量误差校正方法存在精度不稳定,补偿效果较差等问题,进而提供了一种气浮台精密测量误差校正方法。本专利技术为解决上述技术问题采取的技术方案是:,所述方法的具体实现过程为:步骤一:将气浮台调节平衡;步骤二:用自准直光管和17面棱体测得的光栅角度读数Qi(i = 1,2,…,17);CiiQ = I, 2,…,17)减去检测角= 1,2,…,17),其结果等于气浮台的转角误差值Yi(i = 1,2,…,17) -本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单轴气浮台精密测量误差校正方法,其特征在于:所述方法的具体实现过程为:步骤一:将气浮台调节平衡;步骤二:用自准直光管和17面棱体(2)测得的光栅(4)角度读数αi(i=1,2,…,17);αi(i=1,2,…,17)减去检测角βi(i=1,2,…,17),其结果等于气浮台的转角误差值yi(i=1,2,…,17);即:yi=αi?βi;β0为根据具体项目精度选取的初始值;步骤三:根据公式取xi=i(i=1,2…17)分别求出16个线性校正分段函数,对计算机显示的光栅角度进行校正;x表示气浮台校正前的任意转角值,y表示气浮台转角的修正值;步骤四:重复步骤二,利用步骤三求得的校正值测量新的转角误...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王岩赵明史月付振宪
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:

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