【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于磁性薄膜领域,涉及磁电阻薄膜的制备方法,特别是涉及磁性薄膜材料的平面霍尔效应的提高。
技术介绍
自1954年戈登堡等人发现平面霍尔效应(PHE)之后,人们利用PHE效应制成各类传感器。近十几年来,利用PHE效应制成的传感器具有好的频率响应特性、线性度以及热稳定性,且材料成本低,制备工艺简单,可以广泛应用在信息、机电、电子、能源管理、汽车、磁信息读写及工业自动控制等领域。与巨磁电阻(GMR)和各向异性磁电阻(AMR)等传感器相比,PHE传感器具有低热漂移、更易获得线性响应、高的信噪比等优点,更适合测量微小磁场下沿电流方向的磁化偏移、微米或纳米磁系统下的反向磁化和磁畴结构。此外,PHE传感器在测量磁珠和生物分子、研究生物分子之间的反应上具有其独特的优势,在磁性生物传感器方面有很好的发展前景。目前文献所报导的PHE传感器的灵敏度普遍较低(大约为340V/AT),与半导体霍尔效应传感器的灵敏度(大约为1000V/AT)相比还有很大差距。因此,要想推广PHE传感器的应用,必需采取适当的措施提高其灵敏度。具有较高灵敏度的PHE材料的制备是一项非常关键的工作,它 ...
【技术保护点】
一种磁电阻薄膜的制备及平面霍尔效应提高的方法,其特征是采用原子百分比,用Ta做保护层;在Ni81Fe19或者NiCo两边表面沉积MgO或者Al2O3、SiO2、ZnO、Pt、Ir、Au;实施方案是,溅射靶材为Ta靶、Ni81Fe19靶、NiCo靶、MgO靶、Al2O3靶、SiO2靶、ZnO靶、?Pt靶、Ir或Au靶,其中Al2O3、MgO、SiO2、ZnO纳米氧化层采用直接溅射氧化物靶材的方法;Ni81Fe19靶、NiCo靶、Pt靶、Ir?靶、Au靶或Ta靶采用磁控溅射方法;化学分析确定最终沉积薄膜成分为81Ni:19Fe,并且控制薄膜杂质含量小于0.1%。
【技术特征摘要】
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