【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种电子元件外观检查机的光源装置，特别涉及一种光源充足的电子元件外观检查机的光源装置。
技术介绍
随着科技的日新月异及蓬勃发展，电子元件也趋向微小化及精密化，因此，无法再通过肉眼的方式进行检测，因此，目前业界已发展出一用以检测电子元件的外形轮廓(是否有瑕疵或毁损)及尺寸(包含长、宽及高，用以定位使用)的电子元件外观检查机，现有电子元件外观检查机主要是在一平台上设置有一影像撷取器、一光源及一转盘，该光源与该影像撷取器相结合，以此提供该影像撷取器一正向光源，而该转盘可转动地设于该平台上且伸设至该光源的前方；现有电子元件外观检查机在操作时是将一待测的电子元件置放于该转盘上，通过该转盘转动的方式将该待测电子元件移动至该光源的前方，即可使该影像撷取器撷取到该待测电子元件的外观影像，然而，现有电子元件外观检查机虽可对于电子元件进行影像撷取及检测，但因仅在该电子元件的前侧面提供一正光源的方式，所撷取到的电子元件影像如附件一所示，该电子元件的影像容易因光源死角以及不同景深具有不同亮度的影响，容易使所取得的电子元件影像无法清楚地显示出其外观轮廓及相关尺寸，进而无法检测出...
【技术保护点】
一种电子元件外观检查机的光源装置，设置于一电子元件外观检查机上且其特征在于设有一正光源组及一背光源组，其中：该正光源组设置于该电子元件外观检查机上且设有一环形框，其中该环形框于前侧面环形朝内凹设有一环槽，在该环槽的内表面上设有多个间隔排列的第一正光源；以及该背光源组设置于该电子元件外观检查机且呈直线排列地与该正光源组相面对，该背光源组设有一与该电子元件外观检查机相结合的基座以及多个设置于该基座上且朝向该正光源组的背光源。
【技术特征摘要】
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