电池温度检测方法及检测系统技术方案

本发明专利技术提供了一种电池温度检测方法及检测系统，其中，所述检测方法包括：检测电源管理芯片的内电阻，获取内电阻值；利用电源管理芯片检测电池，获取相应的电压值；根据获取的内电阻值及电压值，得到电池电阻值；根据所述电池电阻值得到对应的电池温度。在本发明专利技术提供的电池温度检测方法及检测系统中，通过检测电源管理芯片的内电阻，获取内电阻值，即检测确定在当前环境下，电源管理芯片的内电阻值，而不是默认其为一固定值，如此，可避免内电阻值发生变化对电池温度检测造成的误差，提高了电池温度检测的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电池检测
，特别涉及一种电池温度检测方法及检测系统。
技术介绍
电池温度对于了解电池的性能或者保证电池的使用安全都起着非常重要的作用。目前对于电池温度检测，大多是利用电源管理芯片(PMU芯片)内部的模数转换器(ADC)采样外部电压来实现的。而基于降低电源管理芯片设计成本的考虑，同时为了确保模数转换器支持更大范围的输入电压(比如O 4.2V)，无一例外的，所述电源管理芯片采用了内部集成第一内电阻及第二内电阻，通过分压来实现模数转换器支持更大范围的输入电压的目的。该第一内电阻及第二内电阻为高精度电阻，均通过高聚电阻(high poly resistance)来实现。请参考图1，其为现有的利用电源管理芯片检测电池温度的电路结构示意图。如图1所示，电源管理芯片的一端口与参考电阻及电池的一端连接，参考电阻的另一端与参考电压连接，电池的另一端接地连接，同时，电源管理芯片的另一端口接地连接。当利用电源管理芯片检测电池温度时，首先，通过模数转换器获取电压值Vadc ；其次，利用Vpin处的电压联立等式:Vpin = Vadc* = *Vref/R0其中，符号“//”表示电阻的并联运算；接着，通过变换等式得到电池电阻值:Rntc = Vadc*R0*(R1+R2)*h/ (I)其中，Rntc为电池电阻值；RO为已知的参考电阻值；Vref为已知的参考电压值；(R1+R2)调用芯片常温时标称的阻值，即默认(R1+R2)为一已知的固定值；h= 为固定值；最后，根据得到的电池电阻值，查询电池电阻的温度曲线表便可得到电池的温度值。以上机制,忽略了一个重要因素:虽然高聚电阻(high poly resistance)是高精度电阻，且这种工艺可以实现h= 不随温度变化，保持恒定。但是利用这种工艺集成的电阻(即第一内电阻、第二内电阻)实际上是其阻值会随着温度升高而变小的负温度电阻，也就是说第一内电阻与第二内电阻的电阻值之和，即(R1+R2)的值将发生微小变化。而根据公式(I)可知，这将对通过(R1+R2)的值计算得到的电池电阻值Rntc产生影响，由此，最终对根据电池电阻值Rntc得到的电池温度Tbat产生较大影响；当工艺控制不好，那么(R1+R2)的值变化更大，Tbat的误差将更大。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电池温度检测方法及检测系统，以解决现有电池温度检测方法中，得到的电池温度误差较大的问题。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种电池温度检测方法，包括:检测电源管理芯片的内电阻，获取内电阻值；利用所述电源管理芯片检测电池，获取相应的电压值；根据获取的内电阻值及电压值，得到电池电阻值；根据所述电池电阻值得到对应的电池温度。可选的，在所述的电池温度检测方法中，所述内电阻包括第一内电阻及第二内电阻，通过检测电源管理芯片的内电阻，获取该第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和。可选的，在所述的电池温度检测方法中，利用第一电路结构检测电源管理芯片的内电阻，获取第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和，所述第一电路结构包括:电源管理芯片的一端口与参考电阻的一端连接，参考电阻的另一端与参考电压连接，电源管理芯片的另一端口接地连接。可选的，在所述的电池温度检测方法中，通过该第一电路结构获取相应的电压值Vadcl，根据如下公式获取第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和:(R1+R2) = R0*h*Vadcl/(Vref-hVadcl)其中，R1+R2为第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和；R0为已知的参考电阻值；Vref为已知的参考电压值；h为常数。可选的，在所述的电池温度检测方法中，利用包括所述电源管理芯片的第二电路结构检测电池，获取相应的电压值，所述第二电路结构包括:电源管理芯片的一端口与参考电阻及电池的一端连接，参考电阻的另一端与参考电压连接，电池的另一端接地连接，同时，电源管理芯片的另一端口接地连接。可选的，在所述的电池温度检测方法中，通过该第二电路结构获取相应的电压值Vadc2，根据获取的第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和以及电压值Vadc2，利用如下公式获取电池电阻值:Rntc = Vadc2*R0*(R1+R2)*h/其中，Rntc为电池电阻值。可选的，在所述的电池温度检测方法中，利用包括所述电源管理芯片的总电路结构检测电源管理芯片的内电阻，获取第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和；及检测电池获取相应的电压值，所述总电路结构包括:电源管理芯片的一端口与参考电阻，该端口通过开关与电池的一端连接，参考电阻的另一端与参考电压连接，电池的另一端接地连接，同时，电源管理芯片的另一端口接地连接；当检测电源管理芯片的内电阻，获取第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和时，所述开关断开；当检测电池，获取相应的电压值时，所述开关闭合。可选的，在所述的电池温度检测方法中，通过查询电池电阻的温度曲线表，根据所述电池电阻值得到对应的电池温度。本专利技术还提供一种电池温度检测系统，包括:第一检测模块，用以检测电源管理芯片的内电阻，获取内电阻值；第二检测模块，用以利用所述电源管理芯片检测电池，获取相应的电压值；计算模块，用以根据获取的内电阻值及电压值，得到电池电阻值；查询模块，用以根据所述电池电阻值得到对应的电池温度。可选的，在所述的电池温度检测系统中，所述内电阻包括第一内电阻及第二内电阻，通过检测电源管理芯片的内电阻，获取该第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和。可选的，在所述的电池温度检测系统中，还包括第一电路结构，所述第一电路结构包括:电源管理芯片的一端口与参考电阻的一端连接，参考电阻的另一端与参考电压连接，电源管理芯片的另一端口接地连接；所述第一检测模块调用该第一电路结构获取电压值Vadcl，并根据如下公式获取第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和:(R1+R2) = R0*h*Vadcl/(Vref-hVadcl)其中，R1+R2为第一内电阻及第二内电阻的电阻值之和；R0为已知的参考电阻值；Vref为已知的参考电压值；h为常数。可选的，在所述的电池温度检测系统中，还包括第二电路结构，所述第二电路结构包括:电源管理芯片的一端口与参考电阻及电池的一端连接，参考电阻的另一端与参考电压连接，电池的另一端接地连接，同时，电源管理芯片的另一端口接地连接；所述第二检测模块调用该第二电路结构获取电压值Vadc2，并将该电压值Vadc2传输给计算模块；所述计算模块利用如下公式获取电池电阻值:Rntc = Vadc2*R0*(R1+R2)*h/其中，Rntc为电池电阻值。可选的，在所述的电池温度检测系统中，还包括总电路结构，所述总电路结构包括电源管理芯片的一端口与参考电阻，该端口通过开关与电池的一端连接，参考电阻的另一端与参考电压连接，电池的另一端接地连接，同时，电源管理芯片的另一端口接地连接； 所述第一检测模块调用该总电路结构获取电压值VadcI，此时，所述开关断开；所述第二检测模块调用该总电路结构获取电压值Vadc2，此时，所述开关闭合。可选的，在所述的电池温度检测系统中，所述查询模块通过查询电池电阻的温度曲线表，根据所述电池电阻值得到对应的电池温度。在本专利技术提供的电池温度检测方法及检测系统中，通过检测电源管理芯片的内电阻，获取内电阻值，即检测确定在当前环境下，所述电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电池温度检测方法，其特征在于，包括：检测电源管理芯片的内电阻，获取内电阻值；利用所述电源管理芯片检测电池，获取相应的电压值；根据获取的内电阻值及电压值，得到电池电阻值；根据所述电池电阻值得到对应的电池温度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢远鹏，
申请(专利权)人：联芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：