触控电子装置及触控轨迹的校正方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种触控电子装置，包含触控面板、处理器与校正模块。其中，处理器每隔一间隔时间检测至少一触碰点位，处理器再根据检测到的触碰点位计算模拟点位。当处理器检测到触碰点离开触控面板时，校正模块根据处理器所检测到的触碰点离开触控面板时的触碰点位的坐标（X1,Y1）以及处理器所最后计算出的模拟点位的坐标（X2,Y2）计算多个校正点位，用以校正模拟点位与校正点位的误差，触控电子装置借由模拟点位与校正点位执行触控操作。此外，本发明专利技术也提供一种触控轨迹的校正方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是一种可计算校正点位的。
技术介绍
目前移动电子装置的主流，例如智能手机或平板计算机等，均舍弃传统的键盘鼠标装置而改以触控面板作为标准的输入和输出的接口，以因应电子装置的微小化趋势。通过触控面板，移动电子装置提供使用者借由手指在触控面板上的触碰或滑动来执行触控操作。而随着触控及硬件技术的日新月异，触控操作也愈来愈人性化，许多触控操作方式也愈来愈细腻，因此对于触控轨迹的分辨率要求也愈来愈高，否则便容易发生误判或者是描绘出的触控轨迹不如预期。由于一般人在触控面板上操控执行时，往往会因重心偏移或接触面积变异，造成触碰点位变异使得执行轨迹呈现非平滑状况，因此一般均不会直接使用触控面板所检测到的触碰点位，而是会进一步对触碰点位进行线性化处理。目前触控行业人员对于触控轨迹的修正多利用内插法来平滑化使用者在触控面板上所画出的轨迹。请参照图1与图2，分别为现有技术示意图(一)、(二)。当手指在触控电子装置10的触控面板101上滑动时，触控面板101会检测到触碰点位250 (包含AfA12)，此时，触控电子装置10的处理器会对触碰点位250进行线性化处理而得到模拟点位260(ΑΓ Α12’)。其中，Al’即为Al ;Α2’由Al’与Α2内插计算而得；Α3’由Α2’与A3内插计算而得；Α4’由A3’与Α4内插计算而得；依此类推。`但线性化处理却也造成时间迟滞的问题，也即手指完成操作而离开触控面板101当下所在的触碰点位Α12会与线性化处理最后所计算出的模拟点位产生落差。一种现有计算模拟点位260的方式，当触碰物一离开触控面板便立即停止计算，此时，模拟点位可能仅计算至Α4’便嘎然停止，导致模拟点位260所构成的轨迹与真实的触碰轨迹不符合或差异过大。尤其当手指移动速度愈快时，差异将会愈明显。此种差异极可能造成触控操作的误判或是令描绘出的触控轨迹不如预期。现有技术另一种作法为先将触碰点位250存放于缓存器中，处理器再从缓存器中获取触碰点位250进行处理，如此一来虽然可对所有触碰点位250进行计算而得到模拟点位250，但会造成触控操作的反应时间变长而使触控操作产生时间延迟。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种触控电子装置，包含触控面板、处理器与校正模块。其中，处理器每隔一间隔时间检测至少一触碰点位，处理器再根据检测到的触碰点位计算模拟点位。当处理器检测到触碰点离开触控面板时，校正模块根据触控面板检测到的触碰点离开触控面板时的触碰点位的坐标(X1, Y1)以及处理器所最后计算出的模拟点位的坐标(X2, Y2)计算多个校正点位，用以校正模拟点位与触碰点位之间的误差，触控电子装置借由模拟点位与校正点位执行触控操作。本专利技术也提供一种触控轨迹的校正方法，适用于具有触控面板、处理器与校正模块的触控电子装置。所述触控轨迹的校正方法包含:处理器每隔一间隔时间检测至少一触碰点位，处理器再根据检测到的触碰点位计算模拟点位；当处理器检测到触碰物离开触控面板时，校正模块根据处理器所检测到的触碰点离开触控面板时的触碰点位的坐标(X1, Y1)以及处理器所最后计算出的模拟点位的坐标(X2，Y2)计算多个校正点位，用以校正模拟点位与触碰点位之间的误差。其中，触控电子装置借由模拟点位与校正点位执行触控操作。综上所述，本专利技术不需要借助缓存器，仅需根据处理器所检测到的触碰点离开触控面板时的触碰点位的坐标(X1, Y1)以及处理器所最后计算出的模拟点位的坐标(X2，Y2)计算出多个校正点位，便使触控电子装置得以借由模拟点位与校正点位来执行触控操作，解决了现有技术所具有的种种问题。附图说明图1为本专利技术的现有技术示意图(一)；图2为本专利技术的现有技术示意图(二)；图3为本专利技术的触控电子装置示意图；图4为本专利技术的触碰点位及模拟点位示意 图5为本专利技术的触控轨迹的校正方法流程图。附图标记10:触控电子装置101:触控面板20:触控电子装置201:触控面板250、A1 A12:触碰点位260、Al’ A12’:模拟点位270:校正点位具体实施例方式请参照图3与图4，分别为本专利技术的触控电子装置示意图及本专利技术的触碰点位及模拟点位示意图。触控电子装置20包含:触控面板201、电性连接于触控面板的处理器，以及电性连接于处理器的校正模块。其中，处理器每隔一间隔时间检测至少一触碰点位250，然后再根据触碰点位250计算出模拟点位260，计算模拟点位260的方式于本实施例计算模拟点位260的方式使用内插法。也即Al’即为A1，A2’为A2与Al’两点的内插，A3’为A3与A2’两点的内插，A4’为A4与A3’两点的内插，A5’为A5与A4’两点的内插。然而计算模拟点位260的方式可依制造行业人员或触控电子设备20的种类不同而有所不同，并非仅能使用前述内插法计算。当处理器检测到触碰物(手指或电容式触控笔)离开触控面板201时(也即未检测到触碰点位250时)，处理器停止计算模拟点位260，校正模块开始作用。此时最终计算出的模拟点位为A5’，校正模块根据处理器检测到的触碰物离开触控面板201时的触碰点位A5的坐标(X1, Y1)以及处理器所最后计算出的模拟点位A5’的坐标(X2，Y2)计算多个校正点位270，用以校正模拟点位260与触碰点位250之间的误差，触控电子装置20借由模拟点位260与校正点位270来执行触控操作。在一实施例中，当手指或电容式触控笔离开触控面板201表面时，触控面板201将检测不到任何触碰点位250，此时，校正模块即开始计算校正点位270。校正点位 270的数量可以是三个，其中，三个校正点位270的坐标分别为(本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控轨迹的校正方法，其特征在于，适用于具有一触控面板、一处理器与一校正模块的一触控电子装置，包含：该处理器每隔一间隔时间检测至少一触碰点位；该处理器根据该触碰点位计算一模拟点位；及当处理器检测到触碰点离开该触控面板时，该校正模块根据该处理器所检测到的触碰点离开触控面板时的该触碰点位的坐标（X1,Y1）以及该处理器所最后计算出的该模拟点位的坐标（X2,Y2）计算多个校正点位，用以校正该模拟点位与该触碰点位之间的误差；其中，该触控电子装置根据该模拟点位与该校正点位执行触控操作。

【技术特征摘要】
2011.12.23 TW 1001484041.一种触控轨迹的校正方法，其特征在于，适用于具有一触控面板、一处理器与一校正模块的一触控电子装置，包含: 该处理器每隔一间隔时间检测至少一触碰点位； 该处理器根据该触碰点位计算一模拟点位；及 当处理器检测到触碰点离开该触控面板时，该校正模块根据该处理器所检测到的触碰点离开触控面板时的该触碰点位的坐标(X1, Y1)以及该处理器所最后计算出的该模拟点位的坐标(x2，Y2)计算多个校正点位，用以校正该模拟点位与该触碰点位之间的误差； 其中，该触控电子装置根据该模拟点位与该校正点位执行触控操作。2.根据权利要求1所述的触控轨迹的校正方法，其特征在于，于计算该些校正点位的步骤中，计算三个校正点位。3.根据权利要求2所述的触控轨迹的校正方法，其特征在于，该三个校正点位的坐标分别为4.根据权利要求1所述的触控轨迹的校正方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：董睿昕，林义哲，
申请(专利权)人：达鸿先进科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：