一种RFID读写器性能测试平台制造技术

本实用新型专利技术涉及RFID读写器测试技术领域，尤其是指一种RFID读写器性能测试平台；本实用新型专利技术的升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架，上固定架向下穿设三根以上的螺栓，螺栓的底端穿设过一测试托盘，螺栓的末端设置调节螺母；测试时，将RFlD读写器放置在测试托盘上，需要调整RFlD读写器的高度时，调节设置螺栓的末端设置的调节螺母，使测试托盘处于所需的高度使RFID读写器达到合适的位置，从而达到较佳的测试效果，另一方方面，无需设置垫置物，减少测试成本。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及RFID读写器测试
，尤其是指一种RFID读写器性能测试T D O
技术介绍
现有的制造过程智能监控生产线可以实现对工件加工的智能监控，在软件上显示工件到达的工位，并通过安装在生产线上的RFID读写器以及读写头读取装有电子标签的工件的信息。一般对RFID读写器的性能测试项目包括:运行稳定性，与上位机的通信情况，虚检漏检，读写距离以及速率等等。为测试RFID读写器的稳定性，计划使测试线循环一定时间，标签经过RFID读写器位置读取标签，根据在整个时间周期后测试的漏读率分析RFID读写器的性能。一次周期后RFID读写器的高度，记录高度，再次循环测试标签漏读率，以此测试RFID读写器读写距离。然而传统的RFID读写器测试平台为一固定平台，通常在调整另一个高度时，需要在RFID读写器下方设置垫置物，然而垫置物的高度一般是固定的，很多时候很难使RFID读写器调整到合适的测试高度，影响测试效果，另一方方面，还需设置垫置物，增加测试成本。
技术实现思路
本技术在于针对目前RFID读写器测试平台而存在的不足，而提供一种RFID读写器性能测试平台。为达到上述目的，本技术采用如下技术方案:一种RFID读写器性能测试平台，所述升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架，上固定架向下穿设三根以上的螺栓，螺栓的底端穿设过一测试托盘，螺栓的末端设置调节螺母。优选的，所述调节螺母为蝶形调节螺母。优选的，所述固定架上设置一向下的刻度尺。本技术的有益效果在于:本技术的升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架，上固定架向下穿设三根以上的螺栓，螺栓的底端穿设过一测试托盘，螺栓的末端设置调节螺母；测试时，将RFID读写器放置在测试托盘上，需要调整RFID读写器的高度时，调节设置螺栓的末端设置的调节螺母，使测试托盘处于所需的高度使RFID读写器达到合适的位置，从而达到较佳的测试效果，另一方方面，无需设置垫置物，减少测试成本。附图说明:图1、本技术RFID读写器性能测试平台的剖视图具体实施方式:以下结合附图1对本技术做进一步的阐述:一种RFID读写器性能测试平台，所述升降测试平台包括设置在测试机架(图中未示)上的上固定架1，上固定架I向下穿设三根以上的螺栓2，螺栓2的底端穿设过一测试托盘3，螺栓2的末端设置调节螺母4 ;三根以上的螺栓2可以达到稳定固定测试托盘3目的。为了方便操作，调节螺母4为蝶形调节螺母，无需工具通过操作者的双手即可达到直接调节测试托盘3高度。为了及时了解所调位置的高度，在固定架I上设置一向下的刻度尺5，无需进行再次测量高度，减轻工作量，提高效率。测试时，将RFID读写器放置在测试托盘3上，需要调整RFID读写器的高度时，调节设置螺栓2的末端设置的调节螺母4，使测试托盘3处于所需的高度使RFID读写器达到合适的位置，从而达到较佳的测试效果，另一方方面，无需设置垫置物，减少测试成本。当然，以上所述仅是本技术的较佳实施例，故凡依本技术专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本技术专利申请范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种RFID读写器性能测试平台，其特征在于，所述升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架(1)，上固定架(1)向下穿设三根以上的螺栓(2)，螺栓(2)的底端穿设过一测试托盘(3)，螺栓(2)的末端设置调节螺母(4)。

【技术特征摘要】
1.一种RFID读写器性能测试平台，其特征在于，所述升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架(I)，上固定架(I)向下穿设三根以上的螺栓(2)，螺栓(2)的底端穿设过一测试托盘(3)，螺栓(2)的末端设置调节螺母(4...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹周平，王瑜辉，单臣玉，邵光远，张超，罗强，
申请(专利权)人：东莞华中科技大学制造工程研究院，东莞思谷数字技术有限公司，东莞市华科制造工程研究院有限公司，
类型：实用新型
国别省市：