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一种介质阻挡放电的光谱检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:8799992 阅读:166 留言:0更新日期:2013-06-13 04:59
本发明专利技术提供一种介质阻挡放电的光谱检测方法,该检测方法包括:介质阻挡放电产生等离子体后,入射光以倾斜角度射入,在介质阻挡放电腔内经反光层多次反射,再以倾斜角度从载气出口射出,射出光被检测器接受,检测信号。可以根据需要通过调整入射角度调整光程长度,同时由于入射光以一个角度射出,有效避免了放电产生的背景光干扰。本发明专利技术与现有的检测方法相比,有效提高了灵敏度、稳定性,结构简单,体积小、耗气少,很容易实现仪器的小型化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种介质阻挡放电的光谱检测方法及装置,属于仪器分析

技术介绍
介质阻挡放电的结构特点是至少存在一层绝缘性的阻挡介质和小的放电通道。当在放电电极上施加足够高的交流电压时,电极间的气体,即使在大气压下也会被击穿而形成介质阻挡放电。该放电具有在大气压下实现,小体积,低能耗,低气体温度的优点。该放电现象为蓝紫色,均匀、散漫而稳定,实际上是由大量细微的快速脉冲放电通道构成的。其在原子荧光、原子发射、原子吸收分析方法方面具有广阔的应用前景。目前,已公开的用于介质阻挡放电检测的方法,都是将产生的等离子体引到发生器以外检测,必须要有保护气,由于介质阻挡放电产生的等离子体温度低、体积小,从而使得光程短、不稳定、灵敏度不高、耗气量大和结构复杂等。
技术实现思路
专利技术目的:为解决上述技术问题,本专利技术的目的是提供一种介质阻挡放电的光谱检测方法及装置。为介质阻挡放电提供了在分析仪器中广泛应用的前景。技术方案:为达到上述技术效果,本专利技术采用如下技术方案: 一种介质阻挡放电的光谱检测方法,检测方法包括以下步骤: a.启动:将载气从载气入口通入放电腔,打开高频高压电源进行放电,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种介质阻挡放电的光谱检测方法,其特征在于检测方法包括以下步骤:???a.启动:将载气从载气入口通入放电腔,打开高频高压电源进行放电,介质阻挡放电形成等离子体;???b.进样:将样品蒸汽通过载气从载气入口通入放电腔;???c.检测:调整发光器,使发光器与绝缘介质层成倾斜角A;打开发光器产生入射光,入射光以倾斜角A射入放电腔,并射向反射镜,入射光在放电腔内经反射镜多次反射后射出,射出光被检测器接收,记录检测信号。

【技术特征摘要】
1.一种介质阻挡放电的光谱检测方法,其特征在于检测方法包括以下步骤: a.启动:将载气从载气入口通入放电腔,打开高频高压电源进行放电,介质阻挡放电形成等离子体; b.进样:将样品蒸汽通过载气从载气入口通入放电腔; c.检测:调整发光器,使发光器与绝缘介质层成倾斜角A;打开发光器产生入射光,入射光以倾斜角A射入放电腔,并射向反射镜,入射光在放电腔内经反射镜多次反射后射出,射出光被检测器接收,记录检测信号。2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于:所述载气流速为l(T2000ml/min。3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于:所述高频高压电源电压为220V 30KV,频率为 50HZ 50MHZ。4.根据权利要求1所述的方法:其特征在于:所述发光器采用空心阴极灯、无极放电灯、ICP和激光中的一种。5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于:所述倾斜角A:0° <A<90°。6.一种介...

【专利技术属性】
技术研发人员:洪陵成张欢
申请(专利权)人:河海大学
类型:发明
国别省市:

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