【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种介质阻挡放电的光谱检测方法及装置,属于仪器分析
技术介绍
介质阻挡放电的结构特点是至少存在一层绝缘性的阻挡介质和小的放电通道。当在放电电极上施加足够高的交流电压时,电极间的气体,即使在大气压下也会被击穿而形成介质阻挡放电。该放电具有在大气压下实现,小体积,低能耗,低气体温度的优点。该放电现象为蓝紫色,均匀、散漫而稳定,实际上是由大量细微的快速脉冲放电通道构成的。其在原子荧光、原子发射、原子吸收分析方法方面具有广阔的应用前景。目前,已公开的用于介质阻挡放电检测的方法,都是将产生的等离子体引到发生器以外检测,必须要有保护气,由于介质阻挡放电产生的等离子体温度低、体积小,从而使得光程短、不稳定、灵敏度不高、耗气量大和结构复杂等。
技术实现思路
专利技术目的:为解决上述技术问题,本专利技术的目的是提供一种介质阻挡放电的光谱检测方法及装置。为介质阻挡放电提供了在分析仪器中广泛应用的前景。技术方案:为达到上述技术效果,本专利技术采用如下技术方案: 一种介质阻挡放电的光谱检测方法,检测方法包括以下步骤: a.启动:将载气从载气入口通入放电腔,打开高 ...
【技术保护点】
一种介质阻挡放电的光谱检测方法,其特征在于检测方法包括以下步骤:???a.启动:将载气从载气入口通入放电腔,打开高频高压电源进行放电,介质阻挡放电形成等离子体;???b.进样:将样品蒸汽通过载气从载气入口通入放电腔;???c.检测:调整发光器,使发光器与绝缘介质层成倾斜角A;打开发光器产生入射光,入射光以倾斜角A射入放电腔,并射向反射镜,入射光在放电腔内经反射镜多次反射后射出,射出光被检测器接收,记录检测信号。
【技术特征摘要】
1.一种介质阻挡放电的光谱检测方法,其特征在于检测方法包括以下步骤: a.启动:将载气从载气入口通入放电腔,打开高频高压电源进行放电,介质阻挡放电形成等离子体; b.进样:将样品蒸汽通过载气从载气入口通入放电腔; c.检测:调整发光器,使发光器与绝缘介质层成倾斜角A;打开发光器产生入射光,入射光以倾斜角A射入放电腔,并射向反射镜,入射光在放电腔内经反射镜多次反射后射出,射出光被检测器接收,记录检测信号。2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于:所述载气流速为l(T2000ml/min。3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于:所述高频高压电源电压为220V 30KV,频率为 50HZ 50MHZ。4.根据权利要求1所述的方法:其特征在于:所述发光器采用空心阴极灯、无极放电灯、ICP和激光中的一种。5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于:所述倾斜角A:0° <A<90°。6.一种介...
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