一种误码仪测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种误码仪测试装置，包括：码型产生器，用于产生多路伪随机码型的信号；发送端信号处理电路，用于调节所述多路伪随机码型的信号，并以交流耦合的方式发送信号至被测设备；接收端信号处理电路，用于接收该被测设备返回的信号并进行信号高频损耗进行补偿，并送入码型比对器进行误码比对。本实用新型专利技术采取了上述方案以后能够对信号进行多路误码测试，减少了链路复杂度。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种误码仪测试装置。
技术介绍
目前，现有技术都是采取单台IOG误码仪加开关矩阵电路分时比对相比，其链路较为复杂且信号抖动较大。
技术实现思路
本技术克服现有技术的缺点，提供了一种误码仪测试装置，包括:码型产生器，用于产生多路伪随机码型的信号；发送端信号处理电路，用于调节所述多路伪随机码型的信号，并以交流耦合的方式发送信号至被测设备；接收端信号处理电路，用于接收该被测设备返回的信号并进行信号高频损耗进行补偿，并送入码型比对器进行误码比对。进一步优选的是，所述码型产生器，用于产生4路IOG的伪随机码型的信号。进一步优选的是，所述误码仪测试装置和被测设备之间设有多个发射和接收通道。本技术采取了上述方案以后，该装置能够对IOG信号进行多路误码测试，减少了链路复杂度。本技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。以下结合附图对本技术进行详细的描述，以使得本技术的上述优点更加明确。附图说明图1是本技术一种误码仪测试装置的结构示意图。具体实施方式下面结合具体实施例对本技术进行详细地说明。如图1所示，包括:码型产生器，用于产生多路伪随机码型的信号；发送端信号处理电路，用于调节所述信号的幅度，并以以交流耦合的方式发送信号至被测设备；接收端信号处理电路，用于对该被测设备恢复出来的并行信号进行信号高频损耗进行补偿，并送入码型比对器进行误码比对。其中，所述码型产生器，用于随机产生码型27-1，231-1，且其中，所述误码仪测试装置同时进行4路IOG信号的误码比对测试；或者，单独使用一个通道测试IOG信号。与传统的单台IOG误码仪加开关矩阵电路分时比对相比，该装置的优势在于可同时对4路IOG信号进行误码检测，减少了链路复杂度，并提高了信号的抖动指标，提供相当于39.8Gb/s到45.2Gb/s连续可调的速率，改装置还可以单独进行IOG误码比对测试。并且，在实施例中，装置采用高精度的时钟源控制抖动，电源进行滤波设计来控制误码仪的抖动，如，可以选择低相位噪声的时钟源和电源部分滤波处理降低抖动。并且，在实施例中，该装置由码型产生器产生4路伪随机码型，通过信号发送处理电路调节信号幅度，信号以交流耦合的方式发送信号并接入被测设备，该设备恢复出来的并行信号回送到设备的接收处理电路，接收处理电路对信号高频损耗进行补偿，最后送入码型比对器进行误码比对。最后应说明的是:以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种误码仪测试装置，其特征在于，包括：码型产生器，用于产生多路伪随机码型的信号；发送端信号处理电路，用于调节所述多路伪随机码型的信号，并以交流耦合的方式发送信号至被测设备；接收端信号处理电路，用于接收该被测设备返回的信号并进行信号高频损耗进行补偿，并送入码型比对器进行误码比对。

【技术特征摘要】
1.一种误码仪测试装置，其特征在于，包括:码型产生器，用于产生多路伪随机码型的信号；发送端信号处理电路，用于调节所述多路伪随机码型的信号，并以交流耦合的方式发送信号至被测设备；接收端信号处理电路，用于接收该被测设备返回的信号并进行信号高频损耗进行补偿...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄秋元，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：