误码测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种采用可编程逻辑器件实现的误码测试装置。该装置包括：处理器接口模块，用于与外部处理器进行连接；时钟生成模块，用于根据处理器接口模块的指令提供运行时钟；以及误码处理模块，用于对待测系统或设备进行误码分析，并将分析结果上报给外部处理器。本发明专利技术采用可编程逻辑器件来实现误码分析功能，所以实现电路简单、成本较低，同时误码分析、处理功能可以根据用户需求灵活定制，可扩展性好。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种误码测试装置，其特征在于，采用可编程逻辑器件实现，包括：　　　　处理器接口模块，用于与外部处理器进行连接；　　　　时钟生成模块，用于根据所述处理器接口模块的指令提供运行时钟，并将运行时钟提供给误码处理模块；以及　　　　所述误码处理模块，用于对待测系统或设备进行误码分析，并将分析结果上报给所述外部处理器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：毕红军，杜晓岗，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[]