低待机功耗过零检测电路制造技术

技术编号:8787601 阅读:195 留言:0更新日期:2013-06-10 01:14
本实用新型专利技术公开了一种低待机功耗过零检测电路,包括由光耦开关、二极管、限流分压电阻、电容和上拉电阻组成的过零检测电路,还包括继电器、限流电阻和去耦电容,所述继电器一端连接直流电源,另一端连接限流电阻,所述限流电阻另一端连接外部MCU,所述继电器的开关部分一端连接火线,另一端连接限流分压电阻,所述二极管的负极与零线之间设有去耦电容。本实用新型专利技术的低待机功耗过零检测电路,在待机状态可切断过零检测回路,降低系统待机功耗,自动控制相关开关的开合状态,无需人工操作。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及过零检测电路
,具体地说是一种低待机功耗过零检测电路
技术介绍
现有技术中大多数过零检测电路都是直接将光耦接在被检测电源回路中,无论待机与否,其中始终有电流流过,增加了系统整体的待机功耗。而随着欧盟相关EUP标准的升级,对待机功耗的要求越来越严格,降低电子产品的待机功耗成为行业中的一大难题;而降低电子电路中应用广泛的过零检测电路的在待机时的产生的功率消耗也是一个亟待解决的难题。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本技术所要解决的问题是克服上述现有技术中的不足,提供一种简单易行的,可待机关断的过零检测电路。(二)技术方案为解决上述问题,本技术的低待机功耗过零检测电路,包括由光耦开关、二极管、限流分压电阻、电容和上拉电阻组成的过零检测电路,还包括继电器、限流电阻和去耦电容,所述继电器一端连接直流电源,另一端连接限流电阻,所述限流电阻另一端连接外部MCU,所述继电器的开关部分一端连接火线,另一端连接限流分压电阻,所述二极管的负极与零线之间设有去耦电容。作为本技术的进一步改进,所述继电器可以是常开继电器、光耦或者可控硅。作为本技术的进一步改进,所述继电器在外部系统进入待机状态时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种低待机功耗过零检测电路,包括由光耦开关、二极管、限流分压电阻、电容和上拉电阻组成的过零检测电路,其特征在于:还包括继电器、限流电阻和去耦电容,所述继电器一端连接直流电源,另一端连接限流电阻,所述限流电阻另一端连接外部MCU,所述继电器的开关部分一端连接火线,另一端连接限流分压电阻,所述二极管的负极与零线之间设有去耦电容。

【技术特征摘要】
1.一种低待机功耗过零检测电路,包括由光耦开关、二极管、限流分压电阻、电容和上拉电阻组成的过零检测电路,其特征在于:还包括继电器、限流电阻和去耦电容,所述继电器一端连接直流电源,另一端连接限流电阻,所述限流电阻另一端连接外部MCU,所述继电器的开关部分一端连接火线,另一端连接限流分压电...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚国祥周湖斌
申请(专利权)人:宁波舜韵电子有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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