【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及。
技术介绍
在电子和光电领域中,控制半导体材料的结晶基体内存在的掺杂杂质的量是重要的。面临着制造含有所需浓度的电活性杂质的半导体材料的困难,工业上已经选择消除电活性杂质以获得非常弱地掺杂的材料。一旦所述材料摆脱这些杂质,使其成型并然后使用其它技术再次掺杂,这确保更好地控制掺杂剂的水平。该制造方法是冗长且昂贵的,因为其需要消除将随后以所需浓度再次引入的掺杂剂杂质。当要向半导体材料中引入掺杂剂时,在结晶之前,将这些掺杂剂引入到熔融原料中或者在熔融步骤前的原料中。但是,在这两种情况中,结晶半导体材料中的掺杂剂的最终量不总是对应于放在坩埚中的量。通常使用不同的用于引入掺杂剂的方法,但是这些方法都和污染的风险和/或控制所引入的掺杂剂的精确量的问题有关。同样地,掺杂剂在坩埚中的分布不均匀,就所关注的半导体材料中的电性能而言,这导致不均衡。
技术实现思路
确定的是,存在提供易于实施、经济且确保良好地控制所引入的掺杂剂的量的的需求。 根据本专利技术的方法特征在于以下事实:该方法包括以下步骤:-提供包含所述半导体材料原料的坩埚,-将掺杂剂材料置于闭合牺牲容器(reci ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:M福斯特,E福尔蒙德,J斯塔德勒,R艾恩豪斯,H劳夫雷,
申请(专利权)人:阿波朗索拉尔公司,希尔特罗尼克斯公司,
类型:
国别省市:
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