一种测量不确定度的分析方法技术

本发明专利技术公开了一种测量不确定度的分析方法。利用参考测量系测量各标准样件，获取测量结果X，利用某一待分析的测量系统对标准样件进行测量，获取测量结果Y；分别计算测量结果X和Y的方差V(X)和V(Y)，并定义α＝V(X)/V(Y)；假设和是测量值X和Y的一个合理估计；并假设有关系存在；按照Mandel精度定义式计算求得计算定义的全局不确定度；再计算整体不确定度T，利用T2替换第5步公式α＝V(X)/V(Y)中的V(Y)，重新计算一个新的比例系数α1；将α1与α对比，如果满足迭代条件，则当前计算的T即为待分析系统的测量不确定度；否则继续迭代。该方法可以对测量系统的测量不确定度作更为合理的分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测量
，具体涉及一种新的分析测量不确定度的方法。相对于传统的单纯基于最小二乘法的测量不确定度分析方法，该方法能获得更加全面地考虑和衡量各种误差源对最终测量结果的影响。它适用于对测量系统的测量结果不确定度的分析。
技术介绍
在用一个测量系统或测量仪器对标准样件进行测量时，测量的结果往往会在一定程度上偏离真实值。产生这些偏离的原因包括系统不确定度、环境随机噪声甚至样件的自身缺陷等等。实际中，往往将这些偏离在数学上描述为一个不确定度值，也就是该不确定度值在一定程度上确定了标准样件的真实值所在的范围。为了合理地计算该不确定度值，必须利用一定的数学工具来对各种不确定度或者误差来源作出一个合理的描述，并计算不确定度或误差的传递对最终测量结果的影响。目前已经使用的方法有最小二乘法，然而最小二乘法并没有完全考虑所有的测量不确定，相反地，最小二乘法武断地假定参考测量系的不确定度为零，这在一定程度上直接导致了最终测量结果不确定度的增加。因此，需要设计一种合理的测量不确定度分析方法，使得该方法能够尽可能全面地考虑输入不确定度对最终测量不确定度的影响。美国阿切尔等人(C.N.Archi本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量不确定度的分析方法，该方法包括下述步骤： 第1步利用参考测量系测量各标准样件，获取测量结果X=(x1,x2,…,x n)，测量分量xk表示对标准样件组中的第k个标准样件进行测量的结果，n表示标准样件的个数； 第2步利用某一待分析的测量系统对标准样件进行测量，获取测量结果Y=(y1,y2,…,yn)，每一个测量分量yk表示对标准样件组中的第k个标准样件进行测量的结果； 第3步分别计算测量结果X=(x1,x2,…,xn)和Y=(y1,y2,…,yn)的方差V(X)和V(Y)，并定义一个比例参数α=V(X)/V(Y)； 第4步假设和是测量值X=(x1,x2,…,xn)和Y=(y1,y2,…,...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘世元，朱金龙，陈修国，张传维，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：湖北;42