本发明专利技术公开了多芯片组件同质键合系统质量一致性改进方法，该方法在原有工艺的厚膜电阻修调并测试完毕后，增加金厚膜键合区表面局部化学机械抛光工艺，具体是：选择贵金属抛光液，通过局部抛光机对每个键合区进行抛光，使其表面平整度≤0.1μm；然后用机械掩模方法，在高真空溅射台或蒸发台中，在键合区表面形成一层铝薄膜、或镍-铬-铝或铬-铜-铝复合薄膜；最后，按常规混合集成电路集成工艺，将半导体芯片和片式元器件集成在成膜基片上，半导体芯片的键合采用硅-铝丝键合，管脚与基片之间采用金丝键合，实现质量一致性好、可靠性高的金-金、铝-铝同质键合。此类器件应用领域广泛，特别适用于大功率、高可靠、宇航级等领域。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术创造涉及多芯片组件(简称MCM)，具体来说，涉及陶瓷厚膜型多芯片组件(简称MCM -C),更进一步来说，涉及同质键合系统陶瓷厚膜型多芯片组件。
技术介绍
原有的多芯片组件集成技术中，是在厚膜低温多层共烧陶瓷基片(简称LTCC基片)上，采用丝网印刷的方式，将金浆、银浆或钯-银浆料等导体浆料、钌系电阻浆料，按顶层布图设计的要求，在LTCC基片上形成导带、阻带图形，经高温烧结后成型。在导带的端头、或指定的地方，形成键合区域、半导体芯片组装区域、或其它片式元器件组装区域，其余区域(包括厚膜阻带)用玻璃铀绝缘层进行表面保护。在基片上进行半导体芯片、其他片式元器件的组装，芯片(通常为铝键合区)、导带(通常为金或银键合区)、管脚(通常为金或镍键合区)之间采用金丝或硅-铝丝进行键合联接，形成完整的电路连接，由此形成的键合系统为金-铝(Au-Al)、银-铝(Ag-Al)或镍-铝(N1-Al)异质键合系统。原有技术存在的主要问题是:①银导带、钯银导带中，银容易氧化，且在长期通电情况下，容易产生电迁移现象，严重影响器件的可靠性，通常表现为键合强度的衰退；②金导带在大电流情况下，在Au-Al键合系统中，键合接触区域金层电迁移现象明显，在Au-Al间容易形成“紫斑”，其产物成份为AuAl2，造成Au-Al键合时形成的合金点疏松和空洞化，最终键合力大幅下降；③金-铝键合系统在高温下，由于金向铝中扩散，Au-Al间形成“白斑”，其产物为Au2A1、Au5Al2, Au5Al,形成一层脆而绝缘的金属间化合物(即金铝化合物)，这种产物可以使合金点电导率大幅降低，严重时可以形成开路；④芯片(表面金属层为铝层)、导带(金导带或银导带)、引线柱(镀金或镀镍)、引线(金丝或硅铝丝)之间，在键合工艺中很难兼容各自的要求；⑤厚膜导带、厚膜键合区表面的粗糙度较大，键合系统键合拉力和长期可靠性等质量一致性较差的问题。经检索，涉及多芯片组件的专利申请件有20余件，但没有改善多芯片组件同质键合系统质量一致性的申请件。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种，以克服原有多芯片组件集成技术的缺陷，解决多芯片组件同质键合系统的质量一致性问题，提高可靠性，使其能够广泛应用于高端产品。专利技术人研究发现由于LTCC基片本身表面较为粗糙，加上厚膜浆料颗粒大及丝网印刷网孔有一定厚度，厚膜导带/键合区表面比较粗糙，表面平整度较差，其粗糙度通常在2 5 μ m，而薄膜厚度通常控制在I 5 μ m，因此，直接在其表面直接形成的薄膜厚度均匀性、薄膜质量均匀性比较差，会导致铝-铝(A1-A1)键合质量的一致性较差，从而造成每个同质键合系统键合拉力、可靠性的一致性比较差。因此必须解决键合区域表面的平整度问题。为达到上述专利技术目的，专利技术人是从提高每个同质键合系统质量一致性的角度出发，采用对每个键合区逐个局部化学机械抛光(CMP)的方法来实现的，具体做法是:选择合适的贵金属抛光液，通过局部抛光机对每个键合区进行抛光，使其表面平整度< 0.Ιμπι，之后采用机械掩模的方法，在高真空溅射台或蒸发台中，在已抛光的键合区表面形成一层铝薄膜、镍-铬-铝或铬-铜-铝复合薄膜；最后，按常规混合集成电路集成工艺，将半导体芯片和片式元器件集成在处理后的厚膜基片上，半导体芯片的键合采用硅-铝丝键合，管脚与基片之间采用金丝键合，即可实现质量一致性好、可靠性高的金-金(Au-Au)、铝-铝(Al-Al)同质键合。上述贵金属抛光液的磨粒硬 度在5GPa 50GPa、粒子直径≤lOOnm。上述铝薄膜、或镍-铬-铝复合薄膜或铬-铜-铝复合薄膜的厚度通常控制在I 5 μ m0上述片式元器件不包括半导体芯片。本专利技术方法有以下特点:①通过局部化学机械抛光，使LTCC基片上的所有键合区表面的平整度控制在< 0.1 μ m，提高在键合区表面制备铝薄膜厚度和质量的一致性、均匀性，提高同质键合系统的质量一致性，从而提高多芯片组件的可靠性和成品率；②改善厚膜金导带键合区与硅-铝丝的键合性能，形成高可靠同质键合系统。提高了多芯片组件长期充分可靠工作的能力通过改变金属掩模通孔尺寸的大小，可以在同一金导带键合区上形成局部铝键合区，可同时兼容金丝键合(键合区与镀金管脚之间)、硅-铝丝键合(基片键合区与芯片键合区之间)，形成高可靠完美键合系统。此类器件广泛应用于航天、航空、船舶、精密仪器、通讯、工业控制等领域，特别适用于大功率、高可靠、宇航级等应用领域，具有广阔的市场前景和应用空间。附图说明以下附图用以比较本专利技术与原有技术的区别，并进一步说明本专利技术方法。图1为原有集成技术示意图，图2为原有技术的金导带/金键合区放大示意图，图3为本专利技术的局部(键合区)化学机械抛光放大示意图，图4为本专利技术的局部(键合区)抛光后淀积铝膜放大示意图，图5为本专利技术的集成技术示意图，图6为原有的工艺流程图，图7为本专利技术的工艺流程图。图中，I为底座，2为管脚镀镍端面，3为金导带/金键合区，4为半导体芯片，5为硅铝丝内引线，6为阻带，7为片式元器件，8为LTCC基片，9为管脚，10为内层通孔，11为内层导带，12为管脚镀金端面，13为金丝内引线，14为淀积的铝薄膜。LTCC基片中的陶瓷片为多层，至少二层。具体实施例方式实施例用来对原有集成技术和本专利技术进行比较，以更好地说明本专利技术。实施例1: 原有工艺流程如图6所示，流程简述如下: (1)材料准备:准备好生瓷片、金导体浆料、钌系电阻浆料、半导体芯片等； (2)裁片:根据具体产品LTCC基片的尺寸按要求进行裁片；(3)冲孔:各层间通过通孔及导带进行互连。采用机械冲孔方式，按产品设计的图形及孔径制成LTCC基片各层陶瓷片间的互联通路； (4)填孔及导带印刷:在陶瓷片上通过丝网印刷的方法，将金属浆料填充到过孔内，按规定图形印刷出导带图形，并烘干(150°C、IOmin)； (5)阻带印刷:在陶瓷片上通过丝网印刷的方法，将电阻浆料按规定图形印刷出阻带图形，并烘干(150°C、IOmin)； (6)叠片:将各层陶瓷片按照设计顺序进行精确叠放。为使得陶瓷片相互紧密粘连，需把流延时预置的衬底薄膜揭除； (7)等静压:将已经精确叠放的多层陶瓷在机械 高压下进行贴合，实现紧密接触； (8)切割:将静压之后的陶瓷片，按照模块边界进行切割分离； (9)烧结:陶瓷片切割分离后，在烧结炉中进行排胶和烧结，使瓷材硬化结构稳定； (10)通过丝网印刷的方法，在烧结后的LTCC基片表面印刷导带图形和阻带图形，并烘干(150°C、10min)。在烧结炉中进行排胶和烧结(850°C、lOmin，总时间35min)； (11)激光调阻:使用功率激光对通过丝网印刷制成的电阻进行精细调节，以达到设计要求； (12)检测:对调阻后的LTCC成膜基片进行外观检验和电气测试； (13)将LTCC成膜基片采用合金焊接的方式装贴在管基上，按常规集成电路组装工艺，进行半导体芯片、其他贴片元器件的组装，完成内引线键合； (14)对功能及外观按产品要求进行检验； (15)在高纯氮的保护下、在150°C左右的炉子中进行8h以上的高温烘烤，将水汽彻底烘干； (16)封帽:在特定环境中进行封帽，完成整个器件的集成与生产； (17)本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多芯片组件同质键合系统质量一致性改进方法，其特征在于该方法从提高每个同质键合系统质量一致性的角度出发，采用对每个键合区逐个局部化学机械抛光的方法来实现的，具体做法是：选择合适的贵金属抛光液，通过局部抛光机对每个键合区进行抛光，使其表面平整度≤0.1μm，之后采用机械掩模的方法，在高真空溅射台或蒸发台中，在已抛光的键合区表面形成一层铝薄膜、镍‑铬‑铝或铬‑铜‑铝复合薄膜；最后，按常规混合集成电路集成工艺，将半导体芯片和片式元器件集成在处理后的成膜基片上，半导体芯片的键合采用硅‑铝丝键合，管脚与基片之间采用金丝键合，即可实现质量一致性好、可靠性高的金‑金、铝‑铝同质键合。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨成刚，苏贵东，
申请(专利权)人：贵州振华风光半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：贵州;52
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