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三维测距仪制造技术

技术编号:8654777 阅读:250 留言:0更新日期:2013-05-01 22:22
本发明专利技术公开了一种三维测距仪,包括外壳和支撑外壳的底盘,外壳可在底盘上同轴旋转运动,底盘设有水平刻度盘,底盘底面中心设有对准器,外壳内置有处理器、测距模块、输入模块、输出模块和水准装置。处理器根据输入模块的指令将测距模块的数据经过处理传送至输出模块。测距模块包括第一测距装置、第二测距装置和第三测距装置。外壳内还置有第一射线发生器与第二射线发生器。本发明专利技术提供的三维测距仪可以独立测量待测房建内顶板与墙体的平整度,操作简单而测量精准,大大减轻了操作者的劳动强度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光机电一体化领域,具体涉及一种工程测距装置。
技术介绍
现在的检查房建的测距仪一般是手握式测距仪,使用方法是以室内地面为基准,测其地面到顶板的垂直距离,或以一个墙面为基准,测其到另一个墙面的水平垂直距离。如果在先选取的基准面不在水平或铅垂方向,上述所得数据也就存在明显的误差。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种三维测距仪,解决上述现有技术中的一个或者多个。本专利技术公开了一种三维测距仪,包括处理器、测距模块、输入模块、输出模块和水准装置,处理器连接输入模块、输出模块和测距模块,处理器根据输入模块的指令将测距模块的数据经处理后传送至输出模块,测距模块包括向上测距的第一测距装置。本专利技术结合测距装置与水准装置,使本专利技术能够方便地测量铅垂方向的距离,进而可以方便地测量待检测房建的顶板距离以及顶板的平整度,装置简单,结构合理。在一些实施方式中,还包括容纳上述各模块与装置的外壳和支撑外壳的底盘,外壳可在底盘上同轴旋转运动,底盘设有水平刻度盘,底盘底面中心设有对准器;测距模块还包括第二测距装置,第二测距装置测量方向与第一测距装置测量方向垂直;外壳内还设有可转动的第一射线发本文档来自技高网...

【技术保护点】
三维测距仪,其特征在于,包括:处理器、测距模块、输入模块(3)、输出模块(4)和水准装置,所述处理器连接所述输入模块(3)、输出模块(4)和测距模块,所述处理器根据所述输入模块(3)的指令将所述测距模块的数据经处理后传送至所述输出模块(4),所述测距模块包括向上测距的第一测距装置(21)。

【技术特征摘要】
1.三维测距仪,其特征在于,包括:处理器、测距模块、输入模块(3)、输出模块(4)和水准装置,所述处理器连接所述输入模块(3)、输出模块(4)和测距模块,所述处理器根据所述输入模块(3)的指令将所述测距模块的数据经处理后传送至所述输出模块(4),所述测距模块包括向上测距的第一测距装置(21)。2.根据权利要求1所述的三维测距仪,其特征在于,还包括容纳上述各模块与装置的外壳(6)和支撑所述外壳(6)的底盘(7),所述外壳(6)同轴可转动连接所述底盘(7),所述底盘(7)设有水平刻度盘(71),所述底盘(7)底面中心设有对准器(72);所述测距模块还包括第二测距装置(22),所述第二测距装置(22)测量方向与所述第一测距装置(21)测量方向垂直;所述外壳(6)内还设有可转动的第一射线发生器(...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈健
申请(专利权)人:陈健
类型:发明
国别省市:

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