光学式测距装置和电子设备制造方法及图纸

一种光学式测距装置。把保持发光透镜（5）和受光透镜（6）的由金属构成的透镜框架（11）保持在由遮光性树脂构成的二次模制件（9）与三次模制件（10）之间。向形成在二次模制件（9）上表面的固定孔（9a）和形成在透镜框架（11）的通孔（11a）填充用于形成三次模制件（10）的遮光性树脂，以形成锚定（10a）。把透镜框架（11）由金属构成，由于即使周围温度变化和自身发热也几乎不热膨胀，所以几乎没有透镜之间距离变化量的差。由于利用锚定（10a）把透镜框架（11）固定在二次模制件（9）与三次模制件（10）之间，所以能够抑制在透镜框架（11）与二次模制件（9）和三次模制件（10）之间产生的由热膨胀系数差引起的滑移。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学对到测距对象物进行测定距离的光学式测距装置，特别是涉及在由于回流焊等温度变化而热膨胀或收缩的情况下，也具有高测距精度的光学式测距装置和安装它的电子设备。
技术介绍
图17是用于说明一般三角测距法原理的图。如图17所示，现有一般的光学式测距装置例如具有发光元件201、受光元件202、发光透镜203和受光透镜204。该光学式测距装置中，从配置在原点(0，0)的发光元件201射出的光束利用配置 在A点(0，d)的发光透镜203而成为大致平行光束(发光轴205)，作为点光向测距对象物211上的B点(O，y )照射。被测距对象物211反射的光束(受光轴206)由配置在C点(L，d)的受光透镜204(聚光透镜)聚光，在配置于沿X方向的轴上的受光元件202上的D点(L+1，O)成像，形成受光点。在此，当把通过C点(受光透镜204的中心)且与y轴平行的线与受光元件202的受光面交叉的点设定为E (L，0)，则三角形ABC与三角形E⑶相似。因此，到测距对象物211的距离y，通过受光元件202检测受光点的位置并测定ED (1)，则能够通过下面的式(I)来计Γ_5] y ニ+⑴如上所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学式测距装置，对到测距对象物进行测定的距离，其特征在于，具有：发光元件，其被安装在安装部件上；发光透镜，其把所述发光元件射出的光向所述测距对象物照射；受光元件，其被安装在所述安装部件上，检测所述测距对象物的反射光汇聚的位置；受光透镜，其把所述反射光向所述受光元件汇聚；透光性树脂体，其封固所述发光元件和所述受光元件；第一遮光性树脂体，其覆盖所述透光性树脂体，以形成所述射出光从所述发光元件到所述发光透镜的空间和所述反射光从所述受光透镜到所述受光元件的空间；透镜框架，其由金属形成，保持所述发光透镜和所述受光透镜；第二遮光性树脂体，其封固所述第一遮光性树脂体，且与所述第一遮光性树脂体一起来保持所...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：和田秀夫，山口阳史，久保胜，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：