一种非晶带材厚度的测量方法及装置制造方法及图纸

技术编号:8654733 阅读:275 留言:0更新日期:2013-05-01 22:20
本发明专利技术公开一种非晶带材厚度的测量方法及装置。包括:带材分卷装置、电磁式微位移传感器、PLC控制器,所述带材分卷装置的主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷;所述电磁式微位移传感器用于测量非晶带材厚度的变化;所述PLC控制器从测量得到的非晶带材厚度的变化中计算得到非晶带材厚度。测量环境良好,干扰较少,从而为客户提供非晶带材准确的厚度信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及非晶带材领域,尤其涉及一种非晶带材厚度的测量方法及装置
技术介绍
非晶合金带材采用的是冷却速度大约106°C /秒的超急冷凝固技术,从钢液到薄带成品的一次成型制备而成的。与传统的金属磁性材料相比,由于非晶合金原子排列无序,没有晶体的各向异性,且电阻率高,因此具有高的导磁率和低的铁损,是优良的软磁材料,代替硅钢、坡莫合金和铁氧体等作为变压器铁芯、互感器等,可大大提高变压器效率、缩小体积、降低能耗。由于非晶合金制造过程节能,同时其磁性能优良,并能够降低变压器使用过程中的损耗,因此被称为二十一世纪绿色材料、电子材料。目前多采用X射线法和激光法对非晶带材进行在线测厚,它们具有相同的优点,既能够实现对带材厚度实时检测,从而对生产过程起到指导作用,但它们各自也存在很多缺陷。X射线法的缺陷主要包括x射线测厚仪体积庞大、不易维护、使用时需要经常校准且射线发射管易老化、辐射污染强等;在线测厚时由于刚喷制出的带材表面热量未完全散去,导致测量所得厚度值误差较大。激光法测厚则对测量环境要求相对较高,如温度、空气中粉尘度等,而非晶带材生产过程中高温、粉尘多的恶劣环境会影响测量结果的准确性。要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非晶带材厚度的测量方法,所述方法:采用高精度电磁式微位移传感器,在非晶带材生产的分卷环节,在接近导辊的位置安装高精度电磁式微位移传感器,通过检测传感器探头到导辊表面的距离变化,根据检测得到的传感器探头到导辊表面的距离变化确定非晶带材厚度。

【技术特征摘要】
1.一种非晶带材厚度的测量方法,所述方法:采用高精度电磁式微位移传感器,在非晶带材生产的分卷环节,在接近导辊的位置安装高精度电磁式微位移传感器,通过检测传感器探头到导辊表面的距离变化,根据检测得到的传感器探头到导辊表面的距离变化确定非晶带材厚度。2.一种非晶带材厚度的测量装置,其特征在于,所述装置包括:带材分卷装置、电磁式微位移传感器、PLC控制器, 所述带材分卷装置的主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷; 所述电磁式微位移传感器用于测量非晶带材厚度的变化; 所述PLC控制器从测量得到的非晶带材厚度的变化中计算得到非晶带材厚度。3.根据权利要求2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:李晓雨王玲姜宁李晨王安庆
申请(专利权)人:青岛云路新能源科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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