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本发明公开一种非晶带材厚度的测量方法及装置。包括：带材分卷装置、电磁式微位移传感器、PLC控制器，所述带材分卷装置的主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷；所述电磁式微位移传感器用于测量非晶带材厚度的变化；所述PLC控制器从测量得到的非晶带材...
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