【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光电器件制造领域，尤其是一种高低温测试温控台。
技术介绍
现有的测试温控台，普遍使用温循设备，设备费用大，使用费用大，速度慢，能源浪费。故，需要一种新的技术问题以解决上述问题。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术存在的不足，提供一种结构简单、成本低的高低温测试温控台。为实现上述专利技术目的，本技术高低温测试温控台可采用如下技术方案一种高低温测试温控台，包括半导体制冷片、万用表及控制电路，所述半导体制冷片上设有第一热敏电阻及第二热敏电阻，所述第一热敏电阻与控制电路连接，第二热敏电阻与万用表连接。与
技术介绍
相比，本技术高低温测试温控台结构简单、成本低且易于操作。附图说明图1是本技术高低温测试温控台的结构示意图。具体实施方式`以下结合附图和具体实施例，进一步阐明本技术，应理解这些实施例仅用于说明本技术而不用于限制本技术的范围，在阅读了本技术之后，本领域技术人员对本技术的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。请参阅图1所示，本技术公开一种高低温测试温控台，包括半导体制冷片20、万用表30及控制电路40。所述半导体制冷片20上设有第一热敏电阻21及第二热敏电阻22。所述半导体制冷片20和第一热敏电阻21与控制电路40连接，第二热敏电阻22与万用表30连接。本技术高低温测试温控台结构简单、成本低且易于操作。
【技术保护点】
一种高低温测试温控台，其特征在于：包括半导体制冷片、万用表及控制电路，所述半导体制冷片上设有第一热敏电阻及第二热敏电阻，所述第一热敏电阻与控制电路连接，第二热敏电阻与万用表连接。
【技术特征摘要】
1.一种高低温测试温控台，其特征在于包括半导体制冷片、万用表及控制电路，所述半导体制冷片上...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱俊芳，
申请(专利权)人：江苏奥雷光电有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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