【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种响应速度测试仪器，特别涉及一种LCD产品响应速度测试仪器。
技术介绍
显示技术日新月异，随着LCD产品更新换代的速度越来越快，客户对产品的响应速度的要求也越来越高，现已有方案主要通过购买专用的测试仪器，这些仪器不但费用昂贵，而且操作起来需要专业的人才能操作。测试时耗费的时间也比较长。所谓响应时间是液晶显示器各象素点对输入信号反应的速度，即象素由暗转亮或由亮转暗所需要的时间。响应时间越小则使用者看动态画面越不会有尾影拖曳的感觉。其原始是在液晶盒内施加电压，使液晶分子扭转与回复。一般响应时间分为两个部分上升时间和下降时间；我们所说的响应时间指的就是两者之和。究其原理为给液晶显示器一个电压信号后测试出该液晶显示器在电场作用下的透过率由90%降到10%和由10%升到90%所需要的时间。现有响应速度测试技术是通过专业的测试设备对液晶显示器给一个测试电压，液晶显示器盒内的液晶分子通过自身的光双折射特性来表现出液晶分子的扭转和回复快慢。因为采用专业的设备来测试响应速度，所以存在着测试仪器结构复杂，操作繁琐，成本高，测试速度慢的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种LCD产品响应速度测试仪器，解决现有LCD产品响应速度测试仪器结构复杂，操作繁琐，成本高，测试速度慢的问题。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种LCD产品响应速度测试仪器，包括垫板，设置在垫板上的背光源，设置在背光源两侧的支撑结构，设置在支撑结构上端的带感光电路的娃光电池，娃光电池位于背光源的正上方，感光电路与不波器相连接；测试时，将闪烁状态的待测试IXD产品放置在硅光电池和...
【技术保护点】
一种LCD产品响应速度测试仪器，其特征在于：包括垫板（1），设置在垫板（1）上的背光源（2），设置在背光源（2）两侧的支撑结构（3），设置在支撑结构（3）上端的带感光电路（6）的硅光电池（5），硅光电池（5）位于背光源（2）的正上方，感光电路（6）与示波器相连接；测试时，将闪烁状态的待测试LCD产品（4）放置在硅光电池（5）和背光源（2）之间，背光源（2）保持常亮状态，背光源（2）的光透过LCD产品（4）传给硅光电池（5），硅光电池（5）将光信号转换成电信号并通过感光电路（6）将电信号传给示波器，通过示波器波形的变换来检测LCD产品（4）的响应速度。
【技术特征摘要】
1.一种IXD产品响应速度测试仪器，其特征在于包括垫板(1)，设置在垫板(I)上的背光源(2)，设置在背光源(2)两侧的支撑结构(3)，设置在支撑结构(3)上端的带感光电路(6)的娃光电池(5),娃光电池(5)位于背光源(2)的正上方,感光电路(6)与不波器相连接；测试时，将闪烁状态的待测试IXD产品(4)放置在娃光电池(5)和背光源(2)之间，背光源(2 )保持常亮状态，背光源(2 )的光透过I...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄奖华，尹康杰，吴建琴，
申请(专利权)人：黄山市中显微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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