【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电探测器的检测技术，具体是指一种测量红外探测器响应率的装置。
技术介绍
近年来，我国航空航天事业、工农业生产及科学技术的迅速发展，红外探测器技术在不同领域中得到越来越多、越来越广泛的应用。由于红外探测器除了本身的体积小、重量轻、可以识别不可见光等优点之外，同时还具有高探测率、基本对波长没有限制、室温下可以正常使用以及比较可靠的结构、具有较好的稳定性等优点，因此，在航空航天领域、国防建设、工农业生产、交通运输及科研系统等领域都有了广泛的应用。为了获得具有高准确度和可信度的数据，对红外探测器性能的优劣提出了越来越高的要求。红外探测器响应率是表征红外探测器对入射辐射灵敏程度的物理量，其相应率越大，探测器对辐射型号的灵敏程度越好。目前市场上的红外探测器响应率测试装置在实用性、安装简易性、辐射信号可调整性和黑体温度可控性等方面均存在不足。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种简捷、实用的测量红外探测器响应率的装置，以达到精确测量响应率的目的。为实现本专利技术的目的，提供以下技术方案：一种红外探测器响应率测试装置，其特征在于包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统，所述光源系统安装于黑体支架上，包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器，三维位移台上安装有被测探测器，测试处理系统包括测试计算机...
【技术保护点】
一种红外探测器响应率测试装置，其特征在于包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统，所述光源系统安装于黑体支架上，包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器，三维位移台上安装有被测探测器，测试处理系统包括测试计算机、测试板卡，测试计算机信号连接黑体控制器，控制黑体辐射温度，黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上，被测探测器信号连接测试板卡，测试板卡与测试计算机电连接，由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据。
【技术特征摘要】
1.一种红外探测器响应率测试装置，其特征在于包括光学测试平台、设置于光学测试
平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光
源系统以及测试处理系统，所述光源系统安装于黑体支架上，包括黑体、光阑、滤光片以及
黑体控制器，三维位移台上安装有被测探测器，测试处理系统包括测试计算机、测试板卡，
测试计算机信号连接黑体控制器，控制黑体辐射温度，黑体发出的辐射信号通过光阑和滤
光片垂直入射到被测探测器上，被测探测器信号连接测试板卡，...
【专利技术属性】
技术研发人员：张豪，何旭娇，谈彬武，吕鹏，许勇，周平，
申请(专利权)人：无锡元创华芯微机电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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