改良的检测探针制造技术

本实用新型专利技术是有关于一种改良的检测探针，主要是在检测探针的检测端涂布包覆一层导电胶层，该导电胶层具适当缓冲性和弹性，故该被施压接触的被测物检测点将不会被刺伤产生针痕或发生破坏现象，而检测探针接触到被测物的防焊与检测点衔接处时，该导电胶层会形变接触到检测点，将可达到减少误测、提高检测准确度和降低不良品产生的效果。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关一种改良的检测探针，尤指一种设置简单、经济，可提升被测物品质和良率，及可提高检测准确度与降低不良品产生效果，而极符实际适用性、理想性和进步性的检测探针。
技术介绍
一般具有多个检测点(如电子元件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装元件或晶圆等制成后，均需通过一种专用治具予以检测，借以确认是否为良品或有无断路现象。按现有习知业界所采用检测该诸如印刷电路板、半导体封装元件或晶圆等被测物的方式，大抵如图1所示，是在检测治具10上表面设置有若干支检测探针20，该若干支检测探针20且配合被测物30底面的各检测点(图未示)位置设置；另外，在检测治具10的下方设有底座11，及在底座11的四周配置有接头12，而所述多个接头12与电路测试机的排线(图未示)相连接导通。当检测被测物30时，预先将电路测试机的排线插入接头12，再将被测物30对应放置在检测治具10的检测探针20上，借由检测探针20与被测物30底面的检测点接触后，电路测试机便可显示被测物30是否有断路或不良等现象。上述，为使该被测物30的诸检测点的检测具有确实性，及为了使被测物30下压于检测探针20实施检测时，该检测探针20或检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种改良的检测探针，其特征在于：在检测探针的检测端涂布包覆有导电胶层。

【技术特征摘要】
1.一种改良的检测探针，其特征在于在...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈惠铃，
申请(专利权)人：陈惠铃，
类型：实用新型
国别省市：