【技术实现步骤摘要】
本技术有关一种光栅光谱衍射效率的测试装置。
技术介绍
在光学研究中常常需要测量光栅光谱的衍射效率,但现有技术的装置均只能测量大小相同口径的光栅的衍射效率,而不能测大小不同口径的光栅的衍射效率,且现有技术的装置也不能测量不同偏振态的衍射效率。因此采用现有技术的测试装置进行测试时,对于光栅口径不同或存在不同偏振态的情况只能分别进行测试,造成测试时间长,程序复杂,测试精度低。故现有技术中的测试装置仍有改进的必要。
技术实现思路
本技术提供一种光栅衍射效率测试装置,以解决现有技术中存在的不能测量口径大小不同的光栅衍射效率,以及不能测量不同偏振态的衍射效率的技术问题。为此,本技术的一种光栅衍射效率测试装置,包括依光路顺次连接的光源室、第一分光系统、第二分光系统和接收器系统,所述光源室用于发出光;所述第一分光系统内设第一光栅,用于将所述光源室发出的光转化为单色光;所述第二分光系统设有被测光栅,用于接收所述单色光,并将所述单色光进行衍射;所述接收器系统内依光路顺次设有偏振器、第四狭缝和接收器,所述偏振器用于将衍射后的光分为水平偏振光和竖直偏振光并通过所述第四狭缝,所述接收器接收所 ...
【技术保护点】
一种光栅衍射效率测试装置,其特征在于,包括依光路顺次连接的光源室、第一分光系统、第二分光系统和接收器系统,所述光源室用于发出光;所述第一分光系统内设第一光栅,用于将所述光源室发出的光转化为单色光;所述第二分光系统设有被测光栅,用于接收所述单色光,并将所述单色光进行衍射;所述接收器系统内依光路顺次设有偏振器、第四狭缝和接收器,所述偏振器用于将衍射后的光分为水平偏振光和竖直偏振光并通过所述第四狭缝,所述接收器接收所述第四狭缝后的光线。
【技术特征摘要】
1.一种光栅衍射效率测试装置,其特征在于,包括依光路顺次连接的光源室、第一分光系统、第二分光系统和接收器系统,所述光源室用于发出光;所述第一分光系统内设第一光栅,用于将所述光源室发出的光转化为单色光;所述第二分光系统设有被测光栅,用于接收所述单色光,并将所述单色光进行衍射;所述接收器系统内依光路顺次设有偏振器、第四狭缝和接收器,所述偏振器用于将衍射后的光分为水平偏振光和竖直偏振光并通过所述第四狭缝,所述接收器接收所述第四狭缝后的光线。2.如权利要求1所述的光栅衍射效率测试装置,其特征在于,所述第四狭缝为水平位置能切换的光阑。3.如权利要求1所述的光栅衍射效率测试装置,其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员:武进田,赵英伟,刘坤,杨洪久,
申请(专利权)人:北京瑞利分析仪器有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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