一种光器件测量方法及测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光器件测量方法。本发明专利技术方法包括以下步骤：步骤A、利用光频梳调制器将具有固定频率及相位的微波信号调制到由光源输出的光载波上，生成光频梳；利用光子滤波器依次滤出所述光频梳的多根连续梳齿；步骤B、对于所滤出的每一根梳齿，以其作为光载波，利用基于光单边调制的光器件测量方法测量出待测光器件在该梳齿所对应的频带内的传输函数；步骤C、根据各梳齿所对应的频带内的传输函数得到待测光器件在所述多根连续梳齿所对应的频带内的宽带传输函数。本发明专利技术还公开了一种采用上述方法的光器件测量装置。本发明专利技术在现有基于光单边带调制的光器件测量方法基础上，采用光频梳调制器与光子滤波器协同工作的方式，大幅度提高了测量范围。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光器件测量方法及测量装置，尤其涉及一种基于光单边带调制的光器件测量方法及测量装置，属于光器件测量、微波光子学

技术介绍
随着光子技术的快速发展和不断完善，光子系统对光器件的要求越来越高，要研制出高精度的光器件，必须辅以高精度的测量技术。然而，现有的光器件测量技术不足以达到如此之高的测试精度，使得高精度的光器件研制无法取得突破性进展，同时，现有的一些高精度光器件无法在光子系统中发挥最大效用。为了实现超高精度的光器件测量，1998年J. E. Roman提出了基于光单边带调制的光矢量分析方法[J. E. Roman, Μ.Y.FrankeI, and R. D. Esman, Spectral characterization of fiber gratings withhighresolution, Opt. Lett. , vol. 23, no. 12, pp. 939-941，Jun. 1998.]。这种方法的本质是将光域的扫频操作转换到电域进行，受益于成熟的电频谱分析技术，其测试精度有了质的飞跃。 图1是典型的基于光单边带调制的测量装置的结构示意图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光器件测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤A、利用光频梳调制器将具有固定频率及相位的微波信号调制到由光源输出的光载波上，生成光频梳；利用光子滤波器依次滤出所述光频梳的多根连续梳齿；步骤B、对于所滤出的每一根梳齿，以其作为光载波，利用基于光单边调制的光器件测量方法测量出待测光器件在该梳齿所对应的频带内的传输函数；步骤C、根据各梳齿所对应的频带内的传输函数得到待测光器件在所述多根连续梳齿所对应的频带内的宽带传输函数。

【技术特征摘要】
1.一种光器件测量方法，其特征在于，包括以下步骤步骤A、利用光频梳调制器将具有固定频率及相位的微波信号调制到由光源输出的光载波上，生成光频梳；利用光子滤波器依次滤出所述光频梳的多根连续梳齿；步骤B、对于所滤出的每一根梳齿，以其作为光载波，利用基于光单边调制的光器件测量方法测量出待测光器件在该梳齿所对应的频带内的传输函数；步骤C、根据各梳齿所对应的频带内的传输函数得到待测光器件在所述多根连续梳齿所对应的频带内的宽带传输函数。2.一种光器件测量装置，包括光载波生成单元、光单边带调制器、微波扫频源、微波幅相接收机、光探测器、主控单元；光单边带调制器将微波扫频源输出的微波扫频信号调制到光载波产生模块输出的光载波...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘时龙，薛敏，唐震宙，赵永久，朱丹，郭荣辉，何超，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：