【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光谱测量领域，涉及一种可以同时显示和分析参考光和探测光的双光束光谱仪。
技术介绍
光谱仪是进行光谱研究和分析的基本光学检测仪器，通过对透射、反射、吸收光谱的测量来实现对光成分的分析、材料属性的分析、物质成分的鉴定等。目前，光谱仪广泛应用于光学检测、生物化学分析、冶金工业、环境检测、大气遥感、天文研究等领域，对于光谱测量的准确性要求也越来越高。光谱仪按照其仪器的光路结构通常可以分为单光束光谱仪和双光束光谱仪两类。单光束光谱仪采用单束复色光分别两次测量参考光和探测光来进行光谱测量和分析。该种光谱仪无法同时显示和测量参考光和探测光，其光路结构无法抵消光源波动带来的误差，同时由于需要取放被测样品会导致光束采集系统的机械位置变动而进一步引入测量误差；但是单光束光谱仪结构简单，体积可以做的很小，便于携带，并且由于是采用单束光照明被测样品，光强相比较双光束光谱仪的强，信噪较高，仪器灵敏度高，价格较低。双光束光谱仪运用两束单色光同时测量和显示参考光和探测光，可以一定程度上抵消光源波动、杂散光和电路噪声带来的影响，在用于定点测量时，具有更好的光度准确度。双光路光谱仪...
【技术保护点】
一种双光束光谱仪，包括用于发出参考光和探测光的光源，以及光谱仪主机，其特征在于，还设有：第一光纤，用于将来自光源的参考光输送至光谱仪主机；第二光纤，用于将来自光源的探测光输送至样品；第三光纤，用于将来自样品的已带有样品信息的探测光输送至光谱仪主机；所述光谱仪主机包括沿光路依次布置的狭缝片、准直镜、平面光栅、成像镜、柱面镜和面阵探测器；所述第一光纤和第三光纤的出射光线均进入所述狭缝片。
【技术特征摘要】
1.一种双光束光谱仪，包括用于发出参考光和探测光的光源，以及光谱仪主机，其特征在于，还设有 第一光纤，用于将来自光源的参考光输送至光谱仪主机； 第二光纤，用于将来自光源的探测光输送至样品； 第三光纤，用于将来自样品的已带有样品信息的探测光输送至光谱仪主机； 所述光谱仪主机包括沿光路依次布置的狭缝片、准直镜、平面光栅、成像镜、柱面镜和面阵探测器；所述第一光纤和第三光纤的出射光线均进入所述狭缝片。2.如权利要求1所述的双光束光谱仪，其特征在于，所述第一光纤、第二光纤和第三光纤组成双芯光纤，该双芯光纤具有贴近光源的第一双芯端口，以及靠近狭缝片的第二双芯端口。3.如权利要求2所述的双光束光谱仪，其特征在于，所述第一光纤和第二光纤的输入端组成所述的第一双芯端口，第一光纤和第三光纤的输出端组成第二双芯端口，所述第二光纤的输出端为第一单芯端口，所述第二光纤的输入端为第二单芯端口 ；所述的第一双芯端口、第二双芯端口、第一单芯端口和第二单芯端口均为SMA905接口，其出射或接收的...
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