影像撷取模块及其放射线影像读取装置制造方法及图纸

技术编号:8565527 阅读:294 留言:0更新日期:2013-04-11 07:57
本发明专利技术公开了一种影像撷取模块及其放射线影像读取装置,以线扫描式读取间接数字化放射成像的影像板上纪录的放射线影像,影像撷取模块包含:一发光元件,其产生一第一光线;一第一光学透镜,具有一第一表面、一第二表面以及一光学作用面,其中第一光线从第一表面进入第一光学透镜,经由光学作用面反射至影像板,影像板被激发后发出一第二光线从第二表面进入第一光学透镜,由光学作用面射出,其中第一光线于影像板上呈线型;以及一线型感测器,其检测第二光线并输出一电子检测信号。本发明专利技术相较于传统点扫描式,可减少影像读取时间,并可有效收集第二光线以提升影像品质。

【技术实现步骤摘要】
影像撷取模块及其放射线影像读取装置
本专利技术是有关一种影像撷取模块以及影像读取装置,特别是一种影像撷取模块及其放射线影像读取装置。
技术介绍
间接数字化放射成像(Computed Radiography, CR),是利用影像板(Imaging plate, IP)代替传统放射成像的胶片,将储存在影像板上的X光资讯利用激光扫描转换为电信号进行数字化图像处理的一种技术。间接数字化放射成像的影像板具有光可激发的储存磷光体分布于其中,当以含有物体(例如人体)的影像资讯的放射线(例如X光)照射时,其可将影像资讯储存于光可激发的储存磷光体,透过激发光(例如激光)的扫描,光可激发的储存磷光体受激发而发出与放射线能量成比例的光,可供光电转换及后续数字化影像处理。请参照图1,其显示一现有技术的间接数字化放射成像的影像撷取模块的立体示意图。现有技术的影像撷取模块系用以读取记录于影像板50中的放射线影像,其包括一激光100,用以对影像板50发出一扫描光线170,以激发影像板50中的储存磷光体发出被激发光线172 ; 以及一光电倍增管(photomultiplier tube,PMT) 120,用以检测影像板50发出的被激发光线172,并将其转换为电子检测信号。现有技术的影像撷取模块采用逐点取像,也就是使激光100 —次仅扫描影像板50 上的一点,接着再以光电倍增管120检测由该点所发出的光。因此,若影像板50所记录的放射线影像要转为1000x1000像素的数字影像,现有技术的影像撷取模块需要取像1000000 次才能完成,所需的读取时间较长。另外,由于影像板中的储存磷光体所发出的光信号较弱,因此有效的收集光信号便成为如何提升影像品质的重点。综上所述,如何减少间接数字化放射成像的影像撷取模块读取影像板上记录的放射线影像所需的时间,并且有效的收集影像板的被激发光线以提升影像品质,便是目前极需努力的目标。
技术实现思路
本专利技术提供一种影像撷取模块及其放射线影像读取装置,其使扫描光线透过一光学透镜的反射,对纪录有放射线影像的影像板进行线扫描,使影像板受激发而发出的被激发光线经会聚并穿透同一光学透镜而由线型感测器接收,故可减少读取影像板上记录的放射线影像所需的时间,并可有效的收集影像板的被激发光线以提升影像品质。本专利技术一实施例的影像撷取模块系用以读取一放射线影像,影像撷取模块包含 一发光元件,用以产生一第一波长范围的一第一光线;一第一光学透镜,其设置于发光元件的前端,并具有一第一表面、一第二表面以及一光学作用面,其中,第一光线从第一表面入射至第一光学透镜,并经由光学作用面反射至第二表面射出并照射至一影像板,影像板被第一光线激发所放射出的一第二波长范围的一第二光线从第二表面入射至第一光学透镜,并从光学作用面射出,其中第一光线于影像板上呈线型,且影像板上的第一光线的延伸方向垂直于影像撷取模块的一扫描方向;以及一线型感测器,其设置于光学透镜的光学作用面侧,用以检测第二光线并输出一电子检测信号。本专利技术另一实施例的放射线影像读取装置包含一影像撷取模块以及一处理单元。 影像撷取模块包含一发光元件,用以产生一第一波长范围的一第一光线;一第一光学透镜,其设置于发光兀件的前端,并具有一第一表面、一第二表面以及一光学作用面,其中,第一光线从第一表面入射至第一光学透镜,并经由光学作用面反射至第二表面射出并照射至一影像板,影像板被第一光线激发所放射出的一第二波长范围的一第二光线从第二表面入射至第一光学透镜,并从光学作用面射出,其中第一光线于影像板上呈线型,且影像板上的第一光线的延伸方向垂直于影像撷取模块的一扫描方向;以及一线型感测器,其设置于光学透镜的光学作用面侧,用以检测第二光线并输出一电子检测信号。处理单元与线型感测器电性连接,用以接收电子检测信号并形成一数字化影像。以下藉由具体实施例配合所附的图式详加说明,当更容易了解本专利技术的目的、
技术实现思路
、特点及其所达成的功效。附图说明图1为一立体示意图,显示现有技术的间接数字化放射成像的影像撷取模块。图2与图3分别为一立体示意图及一剖面示意图,显示本专利技术一实施例的影像撷取模块。图4为一部分剖面示意图,显示本专利技术另一实施例的影像撷取模块。图5为一部分剖面示意图,显示本专利技术另一实施例的影像撷取模块。图6为一部分剖面示意图,显示本专利技术另一实施例的影像撷取模块。图7为一示意图,显示本专利技术一实施例的放射线影像读取装置。主要元件符号说明50影像板100激光120光电倍增管170扫描光线172被激发光线200发光元件210第一光学透镜212第一表面214 第二表面216光学作用面220线型感应器230第二光学透镜240第三光学透镜250第四光学透镜260滤光器700710270272、272A272B、272C第一光线第二光线第二光线处理单元驱动单元具体实施方式请参照图2与图3,其所示分别为本专利技术的一实施例的影像撷取模块的立体示意图及剖面示意图。本专利技术的一实施例的影像撷取模块包括一发光元件200,用以产生一第一波长范围的一第一光线270 第一光学透镜210,其设置于发光元件200的前端,并具有一第一表面212、一第二表面214以及一光学作用面216 (仅标不于图3),其中,第一光线 270从第一表面212入射至第一光学透镜210,并经由光学作用面216反射至第二表面214 射出,再照射至一影像板50,影像板50被第一光线270激发所放射出的一第二波长范围的一第二光线272 (仅标不于图3)从第二表面214入射至第一光学透镜210,并从光学作用面216射出,其中第一光线270于影像板50上呈线型,且影像板50上的第一光线270的延伸方向X垂直于影像撷取模块的一扫描方向Y ;以及一线型感测器220,其设置于光学透镜 210的光学作用面216侧,用以检测第二光线272并输出一电子检测信号。请继续参照图2与图3,于一实施例中,发光元件200可为本身即可发出线型光的光源,例如线激光,或是可发出光束的光源,例如呈矩阵排列的发光二极体,再透过聚焦的光学元件产生高照明强度的线型光。第一光线270系以线扫描的方式激发影像板50中的储存磷光体发出第二光线272 (仅标示于图3),透过线型感测器220检测第二光线272,即可逐线扫描取像,可显著地减少读取放射线影像所需的时间。以影像板50所记录的放射线影像要转为1000x1000像素的数字影像来说,本实施例的影像撷取模块仅需要取像1000次即可完成读取。线型感测器220可为但不限于非晶娃感测器(amorphous silicon sensor) > 电荷稱合元件(Charge Coupled Device, CO))、互补式金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor, CMOS)感测器或接触式影像感测器(Contact Image Sensor, CIS)。 请继续参照图2与图3,另外,第一光线270与第二光线272具有不同的波长范围。 举例而言,第一波长范围的中心波长可为但不限于为630nm,;第二波长范围的中心波长可为但不限于为390nm。故,第一光学透镜210的光学作用面216上设有一两向色涂层,其可反射位于第一波长范围的第一本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种影像撷取模块,用以读取一放射线影像,其特征在于,所述的影像撷取模块包含:一发光元件,用以产生一第一波长范围的一第一光线;一第一光学透镜,其设置于所述的发光元件的前端,并具有一第一表面、一第二表面以及一光学作用面,其中,所述的第一光线从所述的第一表面入射至所述的第一光学透镜,并经由所述的光学作用面反射至所述的第二表面射出并照射至一影像板,所述的影像板被所述的第一光线激发所放射出的一第二波长范围的一第二光线从所述的第二表面入射至所述的第一光学透镜,并从所述的光学作用面射出,其中所述的第一光线于所述的影像板上呈线型,且所述的影像板上的所述的第一光线的延伸方向垂直于所述的影像撷取模块的一扫描方向;以及一线型感测器,其设置于所述的光学透镜的所述的光学作用面侧,用以检测所述的第二光线并输出一电子检测信号。

【技术特征摘要】
1.一种影像撷取模块,用以读取一放射线影像,其特征在于,所述的影像撷取模块包含一发光元件,用以产生一第一波长范围的一第一光线;一第一光学透镜,其设置于所述的发光元件的前端,并具有一第一表面、一第二表面以及一光学作用面,其中,所述的第一光线从所述的第一表面入射至所述的第一光学透镜,并经由所述的光学作用面反射至所述的第二表面射出并照射至一影像板,所述的影像板被所述的第一光线激发所放射出的一第二波长范围的一第二光线从所述的第二表面入射至所述的第一光学透镜,并从所述的光学作用面射出,其中所述的第一光线于所述的影像板上呈线型,且所述的影像板上的所述的第一光线的延伸方向垂直于所述的影像撷取模块的一扫描方向;以及一线型感测器,其设置于所述的光学透镜的所述的光学作用面侧,用以检测所述的第二光线并输出一电子检测信号。2.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的第一光学透镜的所述的第一表面包含一平面或曲面。3.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的第一光学透镜的所述的第二表面包含一平面或曲面。4.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的影像撷取模块更包含一第二光学透镜,其设置于所述的第一光学透镜以及所述的发光元件之间,用以会聚所述的第一光线经由所述的第一表面入射至所述的第一光学透镜。5.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的影像撷取模块更包含一第三光学透镜,其设置于所述的第一光学透镜以及所述的影像板之间,用以会聚所述的第一光线照射所述的影像板,以及会聚所述的第二光线经由所述的第二表面入射至所述的第一光学透镜。6.如权利要求5所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的第三光学透镜包含一杆透镜阵列。7.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的影像撷取模块更包含一第四光学透镜,其设置于所述的第一光学透镜以及所述的线型感测器之间,用以会聚所述的第二光线至所述的线型感测器。8.如权利要求7所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的第四光学透镜包含一杆透镜阵列。9.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的影像撷取模块更包含一滤光器,其设置于所述的第一光学透镜以及所述的线型感测器之间,用以滤除所述的第二波长范围以外的光线。10.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的第一波长范围的中心波长为 630nm。11.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的第二波长范围的中心波长为 390nm。12.如权利要求1所述的影像撷取模块,其特征在于,所述的线型感测器包含非晶硅感测器、电荷耦合元件、互补式金属氧化物半导体感测器或接触式影像感测器。13.一种放射线影像读取装置,其特征在于,所述的放射线影像读取装置包含一影像撷取模块,其包含一发光元件,用以产生一第一波长范围的一第一光线;一第一光学透镜,其设置于所述的发光元件的前端,并具...

【专利技术属性】
技术研发人员:王弘成
申请(专利权)人:全友电脑股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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