【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于红外热像
，特别是涉及。
技术介绍
红外焦平面阵列探测器及其红外图像后处理技术的发展，使得红外热像仪在军事、工业和民用方面都越来越多地被应用。然而由于红外热像探测器至今仍然存在探测单元对热反应存在非均匀，在红外热像仪中还不能脱离对探测元的非均匀校正技术。由于在红外热像装置中安装两个不同温度的冷、热黑体增加了系统设计的复杂性，且大大提高了装置的能耗，因而当前常用的非均匀校正方法为两点加一点的非均匀校正方法，硬件架构上常使用flash加sram的方案来缓存非均匀校正系数(参照专利CN201010514957. X)。该方案下的两点法的系数数据流程为1、出厂前采集探测器在冷、热黑体环境下的响应数据并进行分析。2、上位机计算两点法增益系数G、偏移系数0，将系数下载到装置的flash中。3、开机将flash中的G、0载入到sram中进行，被非均匀校正模块读取进行两点法校正。一点法系数由FPGA产生，利用补偿黑片作为“环境温度黑体”对偏移系数O系数进行微调，得到O’，以此来削弱因探测器温漂引起的“非均匀性对红外画面的影响”，但同时也带来了画面停顿对视觉的影响。由于探测器分辨率的提高，两点法生成的非均匀校正系数数量也随之提高，以384x288的探测器为例，G、O系数皆以16位来表示，则需要3. 538944Mbit的flash空间。同时，由于flash读写速度慢，系数的载入和下载过程也非常缓慢。因此，有必要对此过程进行改进设计。
技术实现思路
本专利技术目的利用红外热像仪开机阶段进行一点校正的方法降低flash的存储空间并加速系数下载过程，同时提供了一...
【技术保护点】
一种红外热像仪非均匀校正系数生成及控制方法，包括下述步骤：（1）采集红外焦平面分别在“高温”和“低温”下的响应数据；（2）通过上位机计算得到两点校正法的增益系数G，并将其下载到并行flash中；（3）红外热像仪开机启动从flash中载入增益系数G到sram中；（4）进行一次一点校正系数生成动作得到偏移系数O’；（5）通过对探测器工作温度的分析来判断是否需要进行补偿，如果是进入步骤（6），如果否则转入步骤（7）；（6）进行一次补偿操作，更新一点校正系数生成动作得到偏移系数O’；（7）进行两点加一点法非均匀校正，并输出校正结果。
【技术特征摘要】
1.一种红外热像仪非均匀校正系数生成及控制方法，包括下述步骤 (1)采集红外焦平面分别在“高温”和“低温”下的响应数据； (2)通过上位机计算得到两点校正法的增益系数G，并将其下载到并行flash中； (3)红外热像仪开机启动从flash中载入增益系数G到sram中； (4)进行一次一点校正系数生成动作得到偏移系数O’； (5)通过对探测器工作温度的分析来判断是否需要进行补偿，如果是进入步骤(6)，如果否则转入步骤(7);· (6)进行一次补偿操作，更新一点校正系数生成动作得到偏移系数O’； (7)进行两点加一点法非均匀校正，并输出校正结果。2.根据权利要求1所述的红外热像仪非均匀校正系数生成及控制方法，其特征在于所述步骤(5)中探测器工作温度的分析为防止过于频繁的校正，其操作方法为 Ca)探测器实现一次开机补偿动作...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘燕，梅平，韦良忠，陈黎明，蒋俊，
申请(专利权)人：无锡艾立德智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。